[实用新型]一种用于集成运放测试的装置无效
| 申请号： | 200920245790.4 | 申请日： | 2009-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN201555931U | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | 李仰鹤 | 申请（专利权）人： | 西安明泰半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 罗笛 |
| 地址： | 710065 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成 测试 装置 | ||
1.一种用于集成运放测试的装置，其特征在于，包括测试装置(5)，测试装置(5)与TR-6800主机(2)和探针台(4)分别连接，TR-6800主机(2)与工业PC(1)和探针台(4)分别连接；
所述的测试装置(5)，由待测器件的DUT底板(6)和多个运放测试小板(7)组成，DUT底板(6)上设置有多个30型针插槽(23)，每个30型针插槽(23)用于与一块运放测试小板(7)连接，DUT底板(6)上设置有一个双运放测试座(25)、一个四运放测试座(27)和一个信号传输接口(28)。
2.根据权利要求1所述的用于集成运放测试的装置，其特征在于，所述工业PC(1)通过软件控制TR-6800主机(2)提供输入端信号源(8)，输入端信号源(8)与输入信号控制电路(9)连接，输入信号控制电路(9)与待测集成运放的待测集成运放输入(10)连接，待测集成运放的待测集成运放输出(11)分别与输入信号控制端(9)、三路负载选择电路(18)、输出测量单元(13)和双运放反馈环的双运放反馈环输入(20)连接，双运放反馈环输入(20)还与新反馈控制单元(19)连接，双运放反馈环的双运放反馈环输出(21)分别与反馈环输出信号跟随单元(22)和输入信号控制单元(9)连接，反馈环输出信号跟随单元(22)与反馈环输出测量单元(17)连接。
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