[实用新型]一种用于集成运放测试的装置

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，用于TR-6800集成电路测试系统，涉及一种用于集成运放测试的装置。

背景技术

目前，TR-6800集成电路测试系统日趋成熟，市场上的装机量已经非常可观，但是其到现在为止还没有一套完整的、标准的集成运放测试解决方案。它之前曾有过测试集成运放的经验，但只能做为个案，不能实现通用，对于集成运放相当一部分功能参数都测试不了，有的参数虽然可以测试，也没有采用标准的测试方法，结果导致测试数据不精确，工作不稳定，测度效果不理想；并且，在其可编程源富余的情况下，会有一部分可编程源得不到充分利用，而在可编程源相对较少的情况下，则根本无法进行测试。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于集成运放测试的装置，解决了现有TR-6800集成电路测试系统在集成运放测试方面，可编程源得不到充分利用，测试参数不齐全、测试数据不精确、工作不稳定的问题。

本实用新型所采用的技术方案是，一种用于集成运放测试的装置，包括测试装置，测试装置与TR-6800主机和探针台分别连接，TR-6800主机与工业PC和探针台分别连接；所述的测试装置，由待测器件的DUT底板和多个运放测试小板组成，DUT底板上设置有多个30型针插槽，每个30型针插槽用于与一块运放测试小板连接，DUT底板上设置有一个双运放测试座、一个四运放测试座和一个信号传输接口。

本实用新型的用于集成运放测试的装置，其特征还在于，所述工业PC通过软件控制TR-6800主机提供输入端信号源，输入端信号源与输入信号控制电路连接，输入信号控制电路与待测集成运放的待测集成运放输入连接，待测集成运放的待测集成运放输出分别与输入信号控制端、三路负载选择电路、输出测量单元和双运放反馈环的双运放反馈环输入连接，双运放反馈环输入还与新反馈控制单元连接，双运放反馈环的双运放反馈环输出分别与反馈环输出信号跟随单元和输入信号控制单元连接，反馈环输出信号跟随单元与反馈环输出测量单元连接。

本实用新型的装置，使用户可以跟据可编程源的多少来选择串行或并行测试，并可实现在TR-6800集成电路测试系统上，对集成运放进行高效、全面、精确、稳定的测试。

附图说明

图1是是现有集成运放测试装置的硬件连接关系图；

图2现有集成运放测试装置信号控制框图；

图3是本实用新型的硬件连接关系图；

图4是本实用新型装置的信号控制框图；

图5是本实用新型装置中的DUT底板结构框图；

图6是本实用新型装置的软件工作流程图。

图中，1.工业PC，2.TR-6800主机，3.现有测试装置，4.探针台，5.测试装置，6.DUT底板，7.运放测试小板，8.输入端信号源，9.输入信号控制电路，10.待测集成运放输入，11.待测集成运放输出，12.两路负载选择电路，13.输出测量单元，14.反馈控制单元，15.单运放反馈环输入，16.单运放反馈环输出，17.反馈环输出测量单元，18.三路负载选择电路，19.新反馈控制单元，20.双运放反馈环输入，21.双运放反馈环输出，22.反馈环输出信号跟随单元，23.30型针插槽，25.双运放测试座，27.四运放测试座，28.信号传输接口。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

图1是现有的集成运放测试装置硬件连接关系图，由工业PC1、TR-6800主机2、现有测试装置3和探针台4(或分选机)组成。现有测试装置3通过相关的接口和转接线与TR-6800主机2和探针台4连接，工业PC1通过专用通信线缆与TR-6800主机2连接，TR-6800主机2通过TTL通信线与探针台4连接；现有测试装置3被测试的集成运放提供外围的工作器件和测量回路，TR-6800主机2为现有测试装置3和被测试的集成运放提供各种可灵活编程的源和继电器控制信号。当开始测试时，工业PC1中的测试程序控制TR-6800主机2向现有测试装置3施加相应的信号并通过控制继电器的切换，使被测试的集成运放达到某种工作状态后，再控制TR-6800主机2来获取此时集成运放反馈出来的信号，并比较所获得的信号参数是否与预期相符，进而以判定集成运放相应的功能是否合格。当一颗集成运放的所有功能都测试完毕并全部合格后，这一颗集成运放产品才算是良品，否则为不良品，良品与不良品的信号通过工业PC1传送至TR-6800主机2再传送至探针台4以进行分类操作。