[实用新型]一种SD卡接口的测试电路、测试卡及测试系统无效
| 申请号： | 200920260845.9 | 申请日： | 2009-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN201562021U | 公开（公告）日： | 2010-08-25 |
| 发明（设计）人： | 何彦平;张鹏程 | 申请（专利权）人： | 深圳市同洲电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G11C7/10 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 sd 接口 测试 电路 系统 | ||
1.一种SD卡接口的测试电路，其特征在于，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
2.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯D3点亮。
3.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
4.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述指示灯D1与所述MCU之间还串接有双极性NPN三极管Y2及电阻R2，所述MCU输出高电频，所述双极性NPN三极管Y2导通，所述指示灯D1点亮。
5.如权利要求3所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述指示灯D2与所述MCU之间还串接有双极性NPN三极管Y3及电阻R3，所述MCU输出高电平，所述双极性NPN三极管Y3导通，所述指示灯D2点亮。
6.一种SD卡接口的测试卡，其特征在于，包括测试卡本体(100)，还包括如权利要求1至5任一权项所述的测试电路。
7.如权利要求6所述的SD卡接口的测试卡，其特征在于，所述测试卡本体(100)上设有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
8.一种SD卡接口的测试系统，其特征在于，包括SD接口的测试卡、被测试终端(200)，所述SD接口的测试卡与所述被测试终端(200)通过设在所述被测试终端(200)上的SD卡接口连接，所述SD接口的测试卡包括测试卡本体(100)、MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，被测试终端(200)的处理器发信号给所述MCU，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
9.如权利要求8所述SD卡接口的的测试系统，其特征在于，所述SD接口的测试卡还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯点亮。
10.如权利要求9所述SD卡接口的的测试系统，其特征在于，所述SD接口的测试卡还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，被测试终端(200)的处理器发信号给所述MCU，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
11.如权利要求8所述SD卡接口的测试系统，其特征在于，所述SD测试卡本体(100)上设有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
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