[实用新型]一种SD卡接口的测试电路、测试卡及测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子技术，尤其涉及一种SD卡接口测试电路、测试卡及测试系统。

背景技术

随着各种多媒体娱乐内容的丰富，消费者对所用的电子产品的储存容量要求越来越高，SD卡作为储存装置已被广泛应用于各种电子设备中，其要么作为产品内置的储存装置；要么作为其扩展储存装置，即在电子产品的本体100上设有SD接口，如需电子产品与外部设备互换数据或增加电子产品本身储存容量时，就可以直接将SD卡插入电子产品上的SD卡接口即可。为了保证SD卡工作稳定可靠，生产时，生产厂商一般都要对SD卡接口进行测试，目前市场上对SD卡接口测试都是直接利用SD卡插入接品进行测试。这种方式不足这处在于：首先，由于SD卡体积很小，测试人员操作很不方便；其次，SD卡本身成本较高，且用于测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本，并且当卡多时，容易丢失，不易管理。

实用新型内容

本实用新型提供一种SD卡接口测试电路，所述测试电路能够节约测试成本、便于管理、安全可靠。

一种SD卡接口的测试电路，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。

优先地，所述测试电路还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯点亮。

优先地，所述测试电路还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。

本实用新型还提供一种SD卡接口的测试卡，所述测试卡能降低测试成本、便于操作、安全可靠。

一种SD卡接口的测试卡，包括测试卡本体100、MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。

优先地，所述测试卡还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯点亮。

优先地，所述测试卡还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。

本实用新型还提供一种SD卡接口的测试系统，所述测试系统能降低测试成本、便于操作、安全可靠。

一种SD卡接口的测试系统，包括测试卡、被测试终端200，所述测试卡与所述被测试终端200通过设在所述被测试终端200上的SD卡接口连接，所述测试卡包括测试卡本体100、MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。

优先地，上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯D3点亮。

优先地，上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。

采用本实用新型的技术方案，由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否，来判断被测试的SD卡接口是否通讯正常，所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡，而不是用真实的SD卡，所以避免了使用真实的SD卡测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本，且当卡多时，容易丢失，不易管理的缺陷，提高了测试效率，降低了测试成本，且便于管理。

附图说明

图1为本实用新型SD卡接口的测试电路结构示意图。

图2为本实用新型SD卡接口的测试卡结构示意图。

图3为本实用新型SD卡接口的测试系统结构示意图

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明进一步详细说明。

本实用新型的技术方案，提供一种SD卡接口测试电路，所述电路包括MCU，所述MCU电连接三个工作指示灯，测试时，所述MCU与所述被测试终端200的处理器串口连接，所述被测试终端200的处理器通过与MCU通讯来控制三个指示灯亮与否，从而可通过三个指示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常，其操作方便、可靠，节约了测试时间，降低了测试成本。

本技术方案可以通过图1所示的电路实现，下面对图1所示的电路进行详细说明。