[实用新型]一种传输芯片的测试装置和测试控制装置

权利要求书

1.一种传输芯片的测试装置，其特征在于，包括：

可编程设备，用于产生根据测试用例构造发送给待测芯片的测试数据，根据待测芯片对所述测试数据处理并返回的结果给出测试报告。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，其中所述可编程设备包括FPGA，所述FPGA用于接收测试数据并根据测试用例对所述测试数据进行转化。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，其中所述可编程设备还包括处理器，用于根据所述测试用例中的可编程设备的配置项配置所述FPGA；所述FPGA还用于接收所述处理器的配置并根据所述测试用例中的待测芯片的工作配置参数、测试功能项构造所述测试数据。

4.如权利要求1至3任一所述的装置，其特征在于，还包括与待测芯片连接的拉偏时钟信号单元，用于测试待测芯片时钟拉偏性能。

5.如权利要求1至3任一所述的装置，其特征在于，还包括与所述待测芯片连接的可调压电源模块，用于向待测芯片提供所需的电压，所述可编程设备还用于根据所述电压对应的测试到的电流，获得所述待测芯片的功耗。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述处理器的控制接口通过所述FPGA与待测芯片对接，所述FPGA还用于根据待测试芯片的接口时序，对处理器的接口时序进行构造/转化，所述处理器还用于对待测芯片的寄存器完成反复读写，验证待测芯片与所述处理器接口的时序是否正常。

7.一种传输芯片的测试控制装置，其特征在于，用于根据测试用例采用如权利要求1至6任一所述的测试装置自动完成测试；

读取测试用例，所述测试用例包括可编程设备的配置项、待测试芯片的工作配置参数、测试功能项、所述待测试芯片测试功能项对应的输出预期值；

根据测试用例中的可编程设备的配置项配置所述可编程设备；

下发待测试芯片的工作配置参数、测试功能项；

根据获得测试芯片的工作配置参数对待测芯片进行配置；

根据测试功能项启动测试；

生成测试用例测试报告。