[发明专利]存储器系统有效

专利信息
申请号: 200980000115.8 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101681296A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 长冨靖 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G06F12/00 分类号: G06F12/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;于 静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储器 系统
【权利要求书】:

1.一种存储器系统,其包括非易失性存储器、控制所述非易失性存储 器的控制电路、控制所述控制电路的MPU、以及执行与主机通信的接口电 路,其中

所述控制电路包括:

读取单元,其将读取使能信号输出至所述非易失性存储器以读取数据;

延迟单元,其使通过返回所述读取使能信号而获得的信号延迟且输出 所述信号作为时钟;以及

锁存单元,其通过使用从所述延迟单元输出的所述时钟而锁存并输出 从所述非易失性存储器读取的所述数据,

其中所述延迟单元能够可变地设定延迟量,且

所述存储器系统还包括修整测试单元,所述修整测试单元在生产时执 行修整测试,并基于测试结果来设定所述延迟单元的所述延迟量。

2.根据权利要求1的存储器系统,其中所述延迟单元包括:

寄存器单元,其可被任意设定;

多个串联连接的延迟元件;以及

选择单元,其基于所述寄存器单元的寄存器值而在所述延迟元件当中

选择一延迟元件来连接,从而选择所述延迟量。

3.根据权利要求2的存储器系统,其中所述寄存器单元的所述寄存器 值由所述MPU设定。

4.根据权利要求1的存储器系统,其中所述读取使能信号在ASIC上 被返回,在所述ASIC中并入有所述控制电路、所述MPU和所述接口电 路。

5.根据权利要求1的存储器系统,其中所述读取使能信号在系统板上 被返回,在所述系统板中并入有ASIC和所述非易失性存储器。

6.根据权利要求1的存储器系统,其中所述修整测试单元包括:

修整数据写入单元,其将修整数据写入所述非易失性存储器中;

比较单元,其读取写入所述非易失性存储器中的所述修整数据,同时 改变所述延迟单元的所述延迟量,并比较所写入的修整数据与所读取的修 整数据;以及

延迟量判定单元,其基于数据比较结果来判定所述延迟单元的所述延 迟量。

7.根据权利要求1的存储器系统,其中所述修整测试单元包括:

修整数据写入单元,其将错误校正码添加到修整数据,并将所述数据 写入所述非易失性存储器中;

错误校正单元,其读取写入所述非易失性存储器中的所述修整数据, 同时改变所述延迟单元的所述延迟量,并通过使用所述错误校正码而对所 读取的修整数据执行错误校正;以及

延迟量判定单元,其基于由所述错误校正单元获得的错误校正结果来 判定所述延迟单元的所述延迟量。

8.根据权利要求1的存储器系统,其中所述修整测试单元包括:

修整数据写入单元,其将错误校正码添加到修整数据,并将所述数据 写入所述非易失性存储器中;

错误校正单元,其读取写入所述非易失性存储器中的所述修整数据, 同时改变所述延迟单元的所述延迟量,并通过使用所述错误校正码而对所 读取的修整数据执行错误校正;

比较单元,其在由所述错误校正使用的错误校正位的数目小于允许的 位数目时,比较所写入的修整数据与所读取的修整数据;以及

延迟量判定单元,其基于数据比较结果来判定所述延迟单元的所述延 迟量。

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