[发明专利]电源装置及照明器具

说明书

技术领域

本发明涉及具有最适合驱动发光二极管等半导体发光元件的调光功能的电源装置及照明器具。

背景技术

最近，作为驱动发光二极管等半导体发光元件的电源，大多使用以开关元件来导通或断开直流电的电源装置。这些电源装置是具有根据外部提供的调光信号来调整发光二极管的光通量的调光功能的类型。

一直以来，作为具有上述调光功能的类型的电源装置，已知有：例如日本专利特开2003-157986号公报所揭示的那样，电源装置具有控制施加到发光二极管的施加电压的电压调光电路及导通或断开控制施加到发光二极管的施加电压的占空比调光电路，根据调光控制信号来切换控制电压调光电路和占空比调光电路。

在日本专利特开2003-157986号公报所揭示的电源电路中，根据脉宽来实施调光控制。因而，在发光二极管的光输出中容易发生闪烁现象，另外，除了用于基于脉宽控制的输出电流控制的限流要素之外，还需要与发光二极管串联或并联的开关元件。因而，存在电源电路的元器件数量增加且电源电路的效率降低的问题。

另一方面，因发光二极管显示出大致恒压特性，为了使其稳定地点亮，需要具有限流要素的元器件或电路。另外，一般在以使用了开关元件的电源装置进行控制的情况下，使用电流控制。由于该电流控制根据流过发光二极管的电流值而决定发光二极管的元件温度，进而影响元件的寿命，因此点亮装置的设计成为重要的控制要素。

所谓的对发光二极管进行调光与以往的放电灯点亮装置相比是比较容易的。其原因是作为负载的发光二极管具有电学上稳定的特性，即使是相对于温度等外界因素，发光二极管的特性的变动也较少。然而，例如若对要求深度调光的用途而采用恒流控制，则在全光点亮的电流较大的区域，虽能够稳定地点亮，但在深度调光区域，电流检测信号或用于控制该电流检测信号的电流基准值成为微小信号。因而，要求检测电流的检测电路或比较器具有精度较高的性能，因而会容易受到噪音的影响而难以进行稳定的动作。因此，也考虑增大用于控制的信号电压。然而，一般的电流检测信号由串联插入发光二极管的电阻器检测，在发光二极管中流过大电流的领域中，该电阻器的功耗增大，所产生的热量也增大，不利于电源装置的开发。

作为解决这些问题的方法，提出了对输出电压进行恒压控制的方式。例如，发光二极管的导通电压比一般的硅二极管要高，例如对于以蓝色为代表的GaN系二极管，从2.5V左右电流开始流过，全光点亮为3.5～4.5V左右，即使是深度调光也能够不受发光二极管的性能、噪音等的影响而实现比较稳定的调光。然而，由于发光二极管的正向电压具有负温度特性，所以因流过的电流而自行发热，正向电压降低，而且由于电流进一步增加，还会担心发热增大而导致热失控的问题。另外，发光二极管的偏差也较大，即使调整点亮装置的输出，但由于发光二极管的个体差异，输出电流也会产生偏差。该问题不仅出现在全点亮状态下，也同样出现在调光状态下，由于温度特性、发光二极管的偏差，流过发光二极管的电流会产生偏差，其结果是，导致发光二极管的光输出产生偏差的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种能够实现稳定的调光控制的电源装置及照明器具。

根据本发明的第一观点，提供一种电源装置，包括：

半导体发光元件；

电流控制电路，该电流控制电路控制提供给上述半导体发光元件的电流；

电压控制电路，该电压控制电路控制施加到上述半导体发光元件的电压；以及，

调光控制部，向该调光控制部输入具有某调光深度的调光信号，该调光控制部根据该调光深度设定电流控制模式和/或电压控制模式，在设定为上述电流控制模式的情况下，控制上述电流控制电路以取决于上述调光深度而决定的目标电流来驱动上述半导体发光元件，在设定为上述电压控制模式的情况下，控制上述电压控制电路以取决于上述调光深度而决定的目标电压来驱动上述半导体发光元件。

另外，根据本发明的其他观点，提供一种电源装置，包括：

半导体发光元件；

电压检测电路，该电压检测电路检测出施加到上述半导体发光元件的电压并输出第一检测信号；

电流检测电路，该电流检测电路检测出提供给上述半导体发光元件的电流并输出第二检测信号；以及，