[发明专利]用于将电子组件测试机校准到标准化值的补偿工具

权利要求书

1.一种电子测试机，其包括位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上的多个测试模块，每一测试模块具有用于测试电子组件的多个触点，所述电子测试机的特征在于：

补偿工具，其用于将所述电子测试机的所述多个测试模块校准到标准化值，所述补偿工具包含：

具有旋转轴线的主体，其共轴地与所述中心轴线对准以用于绕所述旋转轴线旋转到不同的角位置；以及

组件支撑部件，其包括贯穿的凹穴，所述组件支撑部件可操作地与所述主体相关联以用于转位移动，以选择性地使所述凹穴与同由所述多个测试模块界定的每一测试位置相关联的不同相对触点对准，所述组件支撑部件的所述凹穴经配置以接纳具有端子的电子组件，所述端子向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。

2.根据权利要求1所述的电子测试机，其中单一电子组件可经由所述凹穴有角度且径向地与同待测试的所述多个测试模块中的每一者的每一测试位置相关联的触点对准。

3.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装的环形板，所述主体界定径向对准的槽；且其中所述组件支撑部件包含可在多个经转位位置中与所述主体的所述槽啮合的滑件。

4.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装的环形板；且其中所述组件支撑部件包含可绕与所述中心轴线分离的旋转轴线旋转、且可在多个经转位位置中与所述主体啮合的环形板。

5.根据权利要求1所述的电子测试机，其进一步包含：

所述主体和所述组件支撑部件界定允许所述组件支撑部件相对于所述主体转位移动的相对互补界面。

6.根据权利要求5所述的电子测试机，其进一步包含：

多个轨道转位掣子，其位于所述主体和所述组件支撑部件的所述相对界面之间，至少一个挡止件与对应于所述电子组件的每一径向间隔的测试位置的至少一个轨道转位掣子交互。

7.根据权利要求6所述的电子测试机，其进一步包含：

所述多个轨道转位掣子位于槽的相对侧上，以用于与同所述组件支撑部件相关联的至少一个挡止件啮合。

8.根据权利要求1所述的电子测试机，其中所述主体包含与所述中心轴线共轴地安装于一端上的矩形板，所述主体界定径向对准的槽；且其中所述组件支撑部件包含可在多个经转位位置中与所述主体的所述槽啮合的滑件。

9.一种用于将电子测试机中的多个测试模块校准到标准化值的方法，每一测试模块位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的多个触点，所述方法包含：

使具有旋转轴线的主体共轴地与所述中心轴线对准，以用于绕所述旋转轴线旋转到不同角位置；以及

相对于所述主体转位组件支撑部件，以选择性地与同位于所述多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的不同触点对准，所述组件支撑部件包括至少一个凹穴，所述凹穴用于接纳具有端子的电子组件，所述端子向外延伸以允许每一测试位置处的电接触和测试。

10.根据权利要求9所述的方法，其进一步包含：

使单一电子组件有角度且径向地与同待测试的所述多个测试模块中的每一者的每一测试位置相关联的触点对准。

11.根据权利要求10所述的方法，其进一步包含：

针对位于待测试的所述多个测试模块中的每一者处的每一测试位置，记录所述单一电子组件的值。

12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包含：

基于针对所述单一电子组件所读取的所述已记录值，校准每一测试位置。

13.根据权利要求9所述的方法，其进一步包含：

通过位于所述组件支撑部件与所述主体之间的相对互补界面，使所述组件支撑部件相对于所述主体转位移动。

14.根据权利要求13所述的方法，其进一步包含：

使至少一个挡止件与位于所述主体和所述组件支撑部件的所述相对互补界面之间的多个轨道转位掣子中的一者交互，至少一个掣子对应于所述电子组件的每一径向间隔的测试位置。