[发明专利]用于将电子组件测试机校准到标准化值的补偿工具

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于将包括具有用于测试电子组件的多个触点的至少一个测试模块的电子测试机(例如，多层陶瓷电容器(MLCC))校准到标准化值的设备和方法。

背景技术

普遍已知提供可手动置于测试板的特定测试凹穴中且在单一触点台处经电测试的具有已知值的多层陶瓷电容器(MLCC)。接着电容器循环通过其它测试台，离开测试板，恢复，且被置于下一测试台的位置。重复此过程直到已针对每一测试台记录电容器的值为止。此当前用于标准补偿的过程在零件跨越多个触点移动，离开测试板，恢复，且重复所述过程时引起对MLCC的终止端的某些机械磨损。由于机械损坏的缘故，与在第一台中经测试时MLCC所具有的电特性相比，在最终台中经测试时MLCC可具有不同的电特性。

发明内容

将需要提供一种经由组件测试器上的多个测试台测试单一组件(例如，多层陶瓷电容器(MLCC))而不会对电容器的终止端引起不当损坏且无错过电容器的风险的方法。将需要此程序以将机器参数校准到随后可用作标准化值的特定值。

如本文所描述，电子测试机包括多个测试模块。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上且具有用于测试电子组件的多个触点。一种用于将电子测试机的多个测试模块校准到标准化值的补偿工具可包括：具有旋转轴线的主体，其可共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置；以及组件支撑部件，其可操作地与主体相关联用于转位移动，以选择性地与同位于多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括凹穴，其用于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试模块中的每一者处的每一测试位置的电接触和测试。

本文还教示一种用于通过补偿工具将电子测试机中的多个测试模块校准到标准化值的过程或方法。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上且具有用于测试电子组件的多个触点。所述过程可包括啮合具有旋转轴线的主体，所述主体可共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置。所述过程还可包括使组件支撑部件相对于主体转位，以选择性地与同位于多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括至少一个凹穴，其用于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试模块中的每一者处的每一测试位置的电接触和测试。

当结合附图阅读以下描述时，所属领域的技术人员将了解本发明的这些和其它应用中的变化。

附图说明

本文的描述参照附图，附图中贯穿于若干视图，相同参考标号指代相同零件，且其中：

图1是具有旋转轴线的主体和组件支撑部件的透视图，所述主体共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置，所述组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的不同触点对准；

图2是图1的主体和组件支撑部件的放大详细透视图；

图3是与图1的主体可操作地相关联的组件支撑部件的放大详细透视图；

图4A是图1的主体和组件支撑部件在相对于电子测试机的测试模块的测试位置处的部分透视图；

图4B是与图1的主体相关联且位于经径向和弓状地转位的多个测试位置的一者处的组件支撑部件的放大详细透视图；

图5是图1和图2的主体的放大详细视图，其说明用于啮合组件支撑部件的对应脊或挡止件以用于将组件支撑部件固持于多个经转位测试位置的一者处的轨道转位掣子；

图6A是沿图3中的线6A-6A截取的组件支撑部件的横截面图；

图6B是沿图3中的线6B-6B截取的组件支撑部件的横截面图；

图6C是沿图3中的线6C-6C截取的组件支撑部件的横截面图；

图7是具有位于从中心轴线延伸的径向线上的至少一个测试模块和用于测试电子组件的多个触点的电子测试机的简化透视图；

图8是具有旋转轴线的主体和可径向移动的组件支撑部件的简化分解透视图，所述主体共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置，所述可径向移动的组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的不同触点对准；

图9是图8的主体和组件支撑部件的装配详细透视图；

图10A和10B是由组件支撑部件载运的可能替代性凹穴的简化透视图；以及