[发明专利]感光性树脂组合物及其层压体有效

专利信息
申请号: 200980113229.3 申请日: 2009-04-07
公开(公告)号: CN102007452A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 西本秀昭 申请(专利权)人: 旭化成电子材料株式会社
主分类号: G03F7/027 分类号: G03F7/027;G03F7/004;G03F7/40;H05K3/06;H05K3/18
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 感光性 树脂 组合 及其 层压
【权利要求书】:

1.一种感光性树脂组合物,该感光性树脂组合物包含以下的组成:

(a)碱可溶性树脂20~90质量%、

(b)具有可光聚合的不饱和双键的化合物5~75质量%、

(c)光聚合引发剂0.1~20质量%;

其特征在于,作为前述(b)具有可光聚合的不饱和双键的化合物,包含选自由下述通式(I)所示的化合物组成的组中的至少一种化合物,

[化学式1]

式中,R1、R2、R3、和R4各自独立地为H或CH3,R5各自独立地为丙基或丁基,n1、n2、n3、n4、m1、m2、m3和m4各自独立地为0或正整数,n1+n2+n3+n4为21~50的整数,而且m1+m2+m3+m4为0~19的整数,其中,-(C2H4-O)-和-(R5-O)-的重复单元的排列可以是无规也可以是嵌段,并且,-(C2H4-O)-和-(R5-O)-的顺序可以是任一个在中心碳侧。

2.根据权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,作为前述(b)具有可光聚合的不饱和双键的化合物,进一步含有选自由下述通式(II)所示的化合物组成的组中的至少一种化合物:

[化学式2]

式中,R5、R6、R7和R8各自独立地为H或CH3,l1、l2、l3、和l4各自独立地为0或正整数,而且l1+l2+l3+l4为0~20的整数。

3.一种感光性树脂层压体,其含有由权利要求1或2所述的感光性树脂组合物组成的感光性树脂层和支撑层。

4.一种抗蚀图案的形成方法,其包含:在基板上层压权利要求3所述的感光性树脂层压体的感光性树脂层的层压工序;曝光活性光线的曝光工序;和除去未曝光部分的显影工序。

5.根据权利要求4所述的抗蚀图案的形成方法,其中,在前述曝光工序中进行直接描绘而曝光。

6.一种导体图案的制造方法,其包含对基板进行蚀刻或镀敷的工序,其中所述基板是在权利要求4或5所述的抗蚀图案的形成方法中,使用覆铜层压板作为基板来形成了抗蚀图案的基板。

7.一种印刷线路板的制造方法,其特征在于,对基板进行蚀刻或镀敷,进而剥离抗蚀图案,其中所述基板是在权利要求4或5所述的抗蚀图案的形成方法中,使用金属覆盖绝缘板作为基板来形成了抗蚀图案的基板。

8.一种引线框的制造方法,其特征在于,对基板进行蚀刻,然后剥离抗蚀图案,其中所述基板是在权利要求4或5所述的抗蚀图案的形成方法中,使用金属板作为基板来形成了抗蚀图案的基板。

9.一种半导体封装体的制造方法,其特征在于,对基板进行镀敷,然后剥离抗蚀图案,其中所述基板是在权利要求4或5所述的抗蚀图案的形成方法中,使用完成了LSI的电路形成的晶圆作为基板来形成了抗蚀图案的基板。

10.一种具有凹凸图案的基材的制造方法,其特征在于,采用喷砂工艺对该基板进行加工,然后剥离抗蚀图案,其中所述基板是在权利要求4或5所述的抗蚀图案的形成方法中,使用可喷砂加工的基材作为基板来形成了抗蚀图案的基板。

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