[发明专利]药物沉积在其上的基体的分析无效
申请号: | 200980121173.6 | 申请日: | 2009-04-06 |
公开(公告)号: | CN102187200A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | J·格朗伦德;徐国锋;D·A·佩鲁;R·苏布拉曼亚姆 | 申请(专利权)人: | 高露洁-棕榄公司 |
主分类号: | G01N21/33 | 分类号: | G01N21/33;G01N21/35;A61C17/00;A61Q11/00;G01N1/28 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李进;林毅斌 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 药物 沉积 基体 分析 | ||
1.一种用于测定口腔用药物在基体上的沉积的方法,所述方法包括:
(a)使所述基体与所述口腔用药物接触,以在其上沉积一定量的口腔用药物,和
(b)使用近红外(近-IR)光谱法或紫外(UV)光谱法分析所述基体。
2.权利要求1的方法,其中所述口腔用药物为口腔护理活性剂。
3.权利要求1的方法,其中所述基体包含羟基磷灰石(HAP)。
4.权利要求3的方法,其中所述基体用唾液涂覆。
5.权利要求1的方法,所述方法在步骤(a)之后与步骤(b)之前还包括以下步骤:将步骤(a)中获得的含口腔用药物的基体干燥。
6.权利要求5的方法,其中将步骤(a)中获得的含口腔用药物的基体干燥至预定的水浓度。
7.权利要求1的方法,其中所述口腔用药物为溶液。
8.权利要求7的方法,其中所述溶液包含口腔用药物和释放促进剂。
9.权利要求1的方法,其中所述口腔用药物为洁齿剂制剂。
10.权利要求1的方法,其中所述基体使用具有固体测定用附件的近红外光谱仪或紫外光谱仪分析。
11.权利要求10的方法,其中所述基体使用近红外光谱仪分析,且所述固体测定用附件是快速含量分析器(RCA)。
12.权利要求10的方法,其中所述基体使用紫外光谱仪分析,且所述固体测定用附件是积分球附件。
13.权利要求12的方法,所述方法在步骤(a)之后与步骤(b)之前还包括以下步骤:将步骤(a)中获得的含口腔用药物的基体置于所述积分球附件中的反射性盘板上。
14.权利要求1的方法,所述方法在步骤(b)之后还包括以下步骤:应用数学方法,从步骤(b)中产生的近红外光谱或紫外光谱获得定量信息。
15.权利要求14的方法,其中所述数学方法选自一阶和二阶导数、峰面积积分、偏最小二乘回归法(PLS)、Kubelka-Munk变换和光谱差减法。
16.权利要求1的方法,其中步骤(b)中使用的波长对所述口腔用药物具有特异性。
17.一种诊断患者口腔状况的方法,所述方法包括使用近红外(近-IR)光谱法或紫外(UV)光谱法,测定在患者样品中口腔用药物的存在。
18.权利要求17的方法,其中所述患者样品为唾液样品、牙齿样品或牙龈样品。
19.一种用于评价口腔释放系统有效性的方法,所述方法包括:
(a)使用牙科器械,将口腔用药物沉积在基体上,和
(b)使用近红外(近-IR)光谱法或紫外(UV)光谱法分析所述基体。
20.一种装置,所述装置用于实施权利要求1、17或19的方法。
21.一种或多种计算机可读介质,所述介质贮存可执行指令,当执行所述指令时,引起数据处理系统实施包括以下步骤的方法:
使用数学方法分析依照权利要求1的方法产生的近红外光谱或紫外光谱,所述数学方法选自一阶和二阶导数、峰面积积分、偏最小二乘回归法(PLS)、Kubelka-Munk变换、多元线性回归和光谱差减法。
22.权利要求21的计算机可读介质,其中所述方法包括:由近红外光谱进行光谱相减,以获得沉积的口腔用药物的分辨的近红外光谱,确定所述分辨的近红外光谱的二阶导数,并将分辨的近红外光谱的二阶导数的一个或多个相关峰下面积积分。
23.权利要求21的计算机可读介质,其中所述方法包括:进行Kubelka-Munk变换,以将紫外光谱转换成相应的紫外吸收光谱,由相应的紫外吸收光谱进行光谱相减,以获得沉积的口腔用药物的分辨的相应紫外吸收光谱,确定所述分辨的相应紫外吸收光谱的二阶导数,并将所述分辨的相应紫外吸收光谱的二阶导数的一个或多个相关峰下面积积分。
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