[发明专利]集成电路芯片上的集成斜坡,扫描分数频率合成器有效

专利信息
申请号: 200980122499.0 申请日: 2009-05-05
公开(公告)号: CN102067453A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: M·M·克鲁蒂埃;T·里潘 申请(专利权)人: 赫梯特微波公司
主分类号: H03L7/06 分类号: H03L7/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金晓
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 芯片 集成 斜坡 扫描 分数 频率 合成器
【权利要求书】:

1.一种集成电路芯片上的集成斜坡扫描分数频率合成器系统,包括:

分数分频器;

集成电路芯片,包含具有Δ∑型或其它类型的调制器的分数频率合成器,用来修正所述分数分频器的除数;位于所述相同集成电路芯片上的斜坡发生器;所述斜坡发生器响应于触发信号产生用于扫描所述分数频率合成器的频率的斜坡,和接口电路,响应于外部控制器,控制所述斜坡发生器和所述调制器。

2.如权利要求1的集成斜坡扫描分数频率合成器,其中所述分数分频器位于所述集成电路芯片上。

3.如权利要求1的集成斜坡扫描分数频率合成器,其中所述斜坡发生器包括查找表,所述查找表包含多个不同形状的斜坡。

4.如权利要求1的集成斜坡扫描分数频率合成器,其中所述斜坡发生器包括斜坡控制器,所述斜坡控制器包含编程的斜坡步数和步长尺寸,并且响应于触发信号产生斜坡形状。

5.如权利要求1的集成斜坡扫描分数频率合成器,其中所述斜坡发生器包括计算器电路,用以计算一个或多个不同的斜坡形状。

6.如权利要求1的集成斜坡扫描分数频率合成器,其中所述计算器电路计算指数的或抛物线的斜坡形状。

7.如权利要求4的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡控制器包括单一模式,用来根据每个触发信号产生斜坡。

8.如权利要求4的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡控制器包括自动模式,用来根据一个触发信号允许重复的斜坡,并且进一步利用停留时间对所述斜坡控制器编程以定义重复时间段。

9.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述芯片上分数频率合成器还能够集成有:用以对VCO反馈路径分频的分数分频器、环路滤波器、用于驱动所述环路滤波器的电荷泵,和用于响应于参考值和所述分数分频器检测参考值与VCO间的任何偏差的相位频率检测器、由所述环路滤波器驱动的VCO,用以产生补偿信号以使得环路滤波器以所述参考值收敛VCO输出、固定除法器,其位于反馈路径中或位于反馈路径之外,用来调节VCO信号用于内部或外部使用、以及参考路径除法器。

10.如权利要求4的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,进一步包括所述集成电路芯片上的串行或并行接口电路,用于接收芯片外的指令以对所述斜坡控制器进行编程。

11.如权利要求4的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述调制器包括响应所述斜坡控制器输出的分数部分的调制器核心,和响应所述斜坡控制器输出的整数部分的整数延迟路径电路,用来同步从所述调制器到所述分数分频器的整数与分数输出。

12.如权利要求11的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述整数延迟路径电路包括响应所述斜坡控制器输出的整数部分的延迟电路,和用来合并延迟的整数部分和所述调制器核心的分数输出的求和电路。

13.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡是简单斜坡,以单个方向延伸。

14.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡是复合斜坡,以多个方向延伸。

15.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡是复合斜坡,以至少第一方向与基本上相反的第二方向延伸。

16.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述触发信号是从输入引脚硬件产生的。

17.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述触发信号是从SPI软件产生的。

18.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述触发信号是自动模式扫描触发信号。

19.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述触发信号是双向模式扫描触发信号。

20.如权利要求1的芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器系统,其中所述斜坡发生器具有单步模式,其中对于每个触发,每个触发比所述扫描提前一步。

21.一种位于同一芯片上的集成调制器、集成斜坡发生器和集成SPI或并行接口,其中任何其它合成器部件能够位于或不位于芯片上,包括分数分频器、电荷泵、相位检测器、环路滤波器和VCO。

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