[发明专利]核酸扩增的对照的检测方法及其用途无效
申请号: | 200980124610.X | 申请日: | 2009-12-16 |
公开(公告)号: | CN102076849A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 平井光春;间嶋智史;中嶋真也;镰田达夫 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | C12N15/09 | 分类号: | C12N15/09;C12Q1/68 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 核酸 扩增 对照 检测 方法 及其 用途 | ||
1.一种对照检测方法,检测在反应体系中对检测体核酸的标的序列进行扩增时显示所述反应体系的扩增性能的对照,其特征在于:
所述对照是显示反应体系中发生扩增反应的阳性对照和显示反应体系中混入不需要的核酸的阴性对照,
所述反应体系中含有引物、检测用探针和对照用模板核酸,
所述引物是能够对所述标的序列进行扩增的引物,
所述检测用探针是能够与所述标的序列杂交的探针,
所述对照用模板核酸能够利用所述引物进行扩增,
利用所述引物扩增的所述对照用模板核酸的扩增区域中,所述检测用探针能够进行杂交,
所述对照用模板核酸的扩增区域和所述检测用探针的Tm值(TmC)是与所述标的序列和所述检测用探针的Tm值(TmA)不同的值,
所述对照检测方法包括下述(a1)~(a3)工序,在一个反应体系中检测所述阳性对照和所述阴性对照:
(a1)扩增工序,在所述反应体系中,使用所述引物,进行所述对照用模板核酸的扩增,
(a2)分析工序,使用所述(a1)工序的所述反应体系,在所述检测用探针的存在下,进行解链曲线分析,
(a3)判断工序,通过所述解链曲线中的峰,判断所述阳性对照和所述阴性对照分别为阳性还是阴性。
2.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述(a3)工序为,
在所述解链曲线中,
当所述对照用模板核酸的扩增区域和所述检测用探针的Tm值(TmC)存在峰时,判断所述阳性对照为阳性,
当所述对照用模板核酸的扩增区域和所述检测用探针的Tm值(TmC)不存在峰时,判断所述阳性对照为阴性,
当所述对照用模板核酸的扩增区域和所述检测用探针的Tm值(TmC)以外不存在峰时,判断所述阴性对照为阴性,
当所述对照用模板核酸的扩增区域和所述检测用探针的Tm值(TmC)以外存在峰时,判断所述阴性对照为阳性。
3.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述对照用模板核酸中,其扩增区域中所述检测用探针的杂交区域的长度是与所述标的序列中所述检测用探针的杂交区域的长度不同的长度。
4.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述检测用探针是与所述标的序列的规定区域互补的碱基序列,
所述对照用模板核酸在其扩增区域中具有能够与所述检测用探针部分杂交的碱基序列。
5.如权利要求4所述的对照检测方法,其特征在于:
所述对照用模板核酸在其扩增区域中具有与所述标的序列中的所述检测用探针的杂交区域在5′侧和3′侧的至少一侧不同的碱基序列。
6.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述检测用探针是与所述标的序列部分互补的碱基序列,
所述对照用模板核酸在其扩增区域具有与所述检测用探针互补的碱基序列。
7.如权利要求6所述的对照检测方法,其特征在于:
所述对照用模板核酸在其扩增区域具有与所述标的序列中的所述检测用探针的杂交区域相同的碱基序列,并且,与其相邻,具有与所述标的序列中的所述杂交区域的5′侧和3′侧的至少一侧邻接的区域不同的碱基序列。
8.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述对照用模板核酸中,其扩增区域中所述检测用探针的杂交区域的碱基序列是与所述标的序列中所述检测用探针的杂交区域的碱基序列的相同性低于100%的序列。
9.如权利要求8所述的对照检测方法,其特征在于:
所述对照用模板核酸的所述杂交区域和所述检测用探针的互补性,与所述标的核酸的所述检测用探针的杂交区域和所述检测用探针的互补性不同。
10.如权利要求1所述的对照检测方法,其特征在于:
所述标的序列含有显示多态性的标的部位,
所述检测用探针含有与所述标的序列中含有所述标的部位的区域互补的碱基序列。
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