[发明专利]流体供应装置有效
申请号: | 200980124893.8 | 申请日: | 2009-06-22 |
公开(公告)号: | CN102077072A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | P·J·W·范兰卡威尔特;D·M·布鲁斯;A·H·J·伊明克 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N1/02 | 分类号: | G01N1/02;A61B10/00;G01N35/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 流体 供应 装置 | ||
1.一种流体供应装置(5;34),用于向用于分析流体的分析装置(17)提供流体,所述流体供应装置(5;34)包括壳体(6;35),所述壳体具有:
-引入口(7),流体转移元件(1)通过所述引入口可被引入所述壳体(6;35),以将所述流体转移到所述流体供应装置(5;34);
-流体释放区(8),用于从所述流体转移元件(1)释放流体;
-流体转移元件检测区(9;36),用于通过与分析装置(17;33)的流体转移元件检测单元(46)相互作用来检测所述流体转移元件(1)是否被引入所述壳体(6;35);
-控制单元(19,26),用于根据所述流体供应装置(5;34)内流体转移元件(1)的检测来接通或者关闭所述分析装置(17;33)。
2.如权利要求1所述的流体供应装置(5;34),其特征在于,所述流体转移元件检测区(9;36)包括至少一个光学透明部分(10,23),用于允许光学地检测所述流体转移元件(1)是否被引入所述壳体(6;35)。
3.如权利要求1所述的流体供应装置(5;34),其特征在于,还包括分析区(11),用于通过与所述分析装置(17;33)的分析单元(17;33)相互作用来分析从所述流体转移元件(1)释放的流体。
4.如权利要求3所述的流体供应装置(5;34),其特征在于,所述壳体(6;35)包括流体检测区(12),用于通过与所述分析装置(17;33)的流体检测单元相互作用来检测流体是否已经进入分析区(11)。
5.如权利要求1所述的流体供应装置(5;34),其特征在于,所述流体释放区(8)适合于压榨所述流体转移元件(1),以释放流体。
6.一种分析装置(17;33),用于分析由流体供应装置(5;34)提供的流体,如权利要求1所述,所述流体供应装置包括壳体(6;35),所述壳体具有引入口(7),所述流体转移元件(1)通过所述引入口可被引入所述壳体(6;35),以将所述流体转移到所述流体供应装置(5;34),所述分析装置(17;33)包括:
-流体转移元件检测单元(16;46),用于通过与所述流体供应装置(5;34)的流体转移元件检测区(9;36)相互作用来检测所述流体转移元件(1)是否被引入所述壳体(6;35);
-控制单元(19,26),用于根据所述流体供应装置(5;34)内所述流体转移元件(1)的检测来接通或者关闭所述分析装置(17;33)。
7.如权利要求6所述的分析装置(17;33),其特征在于,所述流体转移元件检测单元(16)包括:
-光源(20),用于生成流体转移元件检测光(21),所述检测光通过所述流体转移元件检测区(9)的光学透明部分(10,23)进入所述流体供应装置(5)的流体转移元件检测区(9);
-反射光检测器(22),用于检测由所述流体转移元件(1)反射的反射光,以光学地检测所述流体转移元件(1)是否被引入所述流体供应装置(5)的壳体(6)。
8.如权利要求6所述的分析装置(17;33),其特征在于,所述流体转移元件检测单元(46)包括:
-光源(24),用于生成流体转移元件检测光(27),所述检测光通过所述流体转移元件检测区(36)的至少一个光学透明部分(10,23)进入所述流体供应装置(34)的流体转移元件检测区(36);
-透射光检测器(25),用于检测通过所述至少一个光学透明部分(10,23)透过所述流体转移元件检测区(36)的透射光,以光学地检测所述流体转移元件(1)是否被引入所述流体供应装置(34)的壳体(35)内。
9.如权利要求6所述的分析装置,其特征在于,还包括分析单元(18),用于通过与所述流体供应装置(5;34)的分析区(11)相互作用来分析由所述流体供应装置(5;34)的流体释放区(8)从所述流体转移元件(1)释放的流体,其中,所述分析单元(18)包括分析模式和非分析模式。
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