[发明专利]基于磁锁定、利用不带插座的板对电子器件的测试

权利要求书

1.一种用于测试电子器件(105；105’)的测试系统(120、145；120’、145’)，每个电子器件具有用于电接触所述电子器件的多个端子(115；115’)，其中所述测试系统包括：

一组测试板(120；120’)，其中每个测试板配备有多个导电插孔(135；135’)的排(127；127’)，每个导电插孔用于放置一个对应的电子器件，每个插孔适于接纳对应电子器件的端子，及

锁定装置(140、145；140’、145’)，用于将所述电子器件机械地锁定到测试板上，

其特征在于

锁定装置包括适于无约束地放到电子器件上的无约束装置(145；145’)，用于将所述电子器件压向测试板。

2.如权利要求1所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中所述无约束装置包括用于每个插孔排(127；127’)的无约束元件(145；145’)，所述无约束元件适于无约束地放到对应的电子器件(105；105’)上。

3.如权利要求1或2所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中每个测试板(120；120’)包括用于与所述无约束装置(145；145’)磁相互作用的相互作用装置(140；140’)。

4.如权利要求3所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中每个测试板(120；120’)包括具有彼此相对的第一主表面和第二主表面的基板(125；125’)，插孔排(127；127’)在第一主表面上形成，而所述相互作用装置(140；140’)固定到第二主表面上。

5.如权利要求3或4所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中所述无约束装置(145；145’)和所述相互作用装置(140；140’)中的至少一个是由磁性材料制成的。

6.如权利要求5所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中所述无约束装置与所述相互作用装置中的一个(140；140’)是由磁性材料制成的，而所述无约束装置与所述相互作用装置中的另一个(145；145’)是由铁磁材料制成的。

7.如权利要求6所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中所述相互作用装置(140；140’)由磁性材料制成，而所述无约束装置(145；145’)由铁磁材料制成。

8.如权利要求3至7中任何一项所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中所述相互作用装置包括用于每个插孔排(127；127’)的相互作用元件(140；140’)。

9.如权利要求8所述的测试系统(120、145；120’、145’)，其中每个相互作用元件(140；140’)和/或每个无约束元件(145；145’)都具有在横截面上基本上与对应插孔排(127；127’)的延伸范围相等的延伸范围。

10.如权利要求1至9中任何一项所述的测试系统(120、145)，其中每个端子(115)以凸形接触区域结束，每个插孔(135)包括与对应端子的凸形接触区域匹配并且由适于响应电子器件(105)对测试板(120)的压力而弹性变形的弹性材料制成的凹型凹陷。

11.如权利要求1至10中任何一项所述的测试系统(120’、145’)，其中每个测试板(120’)还包括用于每个插孔排(127’)的中心对准装置(405)，所述中心对准装置适于与对应的电子器件(105’)干涉，用于对准电子器件的每个端子(115’)与对应的插孔(135’)。

12.一种测试板(120；120’)，用在如权利要求3至11中任何一项所述的测试系统(120、145；120’、145’)中。