[发明专利]磁式旋转检测装置及其制造方法有效
申请号: | 200980132469.8 | 申请日: | 2009-09-02 |
公开(公告)号: | CN102124304A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
发明(设计)人: | 赤羽健彦;常田晴弘;长田圭司;矢崎俊悟 | 申请(专利权)人: | 日本电产三协株式会社 |
主分类号: | G01D5/12 | 分类号: | G01D5/12 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 马淑香 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 检测 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种磁式旋转检测装置,具有:形成有由S极和N极构成的磁极对并设于旋转体侧的磁体;以及在所述旋转体的旋转中心轴线方向上与所述磁体对向的磁敏元件,其特征在于,
还包括:设于所述磁体与所述磁敏元件之间的分隔构件;以及固定于所述分隔构件中所述磁体所在一侧的表面的环,
所述磁敏元件的中心位于所述环的中心轴线上,
所述磁体以与所述环非接触的状态配置于所述环的内侧,且所述磁体的中心位于所述环的中心轴线上。
2.如权利要求1所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
在所述磁体上形成有一对S极和N极。
3.如权利要求1所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述磁敏元件配置于所述分隔构件中朝所述磁体所在一侧凹陷的凹部内。
4.如权利要求3所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述磁敏元件安装于基板上,
所述基板与所述分隔构件中形成于所述凹部周围的基板承受部重叠配置,所述磁敏元件与所述凹部的底部之间隔着间隙。
5.如权利要求3所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述磁敏元件的外周端部与所述凹部的内周侧面抵接,从而将所述磁敏元件定位于所述凹部。
6.如权利要求5所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述磁敏元件在表面具有保护层,
所述保护层的外周端部与所述凹部的内周侧面接触。
7.如权利要求6所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述凹部包括底部和四个内周侧面,
所述保护层的外周端部中的在周向上相邻的两个边部与所述四个内周侧面中的相邻的两个内周侧面抵接,
所述磁敏元件被所述两个内周侧面定位于所述凹部。
8.如权利要求7所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述凹部包括:大径的第一凹部;以及在所述第一凹部的底部大致中央位置凹陷的第二凹部,
所述保护层的外周端部与所述第二凹部的内周侧面抵接以将所述磁敏元件定位于所述第二凹部。
9.如权利要求3所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
在所述分隔构件中所述磁体所在的表面侧形成有围住所述凹部的环状槽,
在所述环状槽内嵌入有所述环的所述磁敏元件所在一侧的端部。
10.如权利要求1所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
所述环是由磁性材料构成的磁屏蔽构件。
11.如权利要求1至10中任一项所述的磁式旋转检测装置,其特征在于,
具有固定于供所述磁式旋转检测装置装设的设备的静止体侧的隔板,
所述隔板具有供所述磁体配置于内侧的通孔,且所述通孔的内径尺寸与所述环的外径尺寸相同,
在所述通孔内以位于所述通孔的内壁与所述磁体的外周面之间的方式嵌入有所述环。
12.一种磁式旋转检测装置的制造方法,所述磁式旋转检测装置具有:形成有由S极和N极构成的磁极对并设于旋转体侧的磁体;以及在所述旋转体的旋转中心轴线方向上与所述磁体对向的磁敏元件,其特征在于,
将环固定于在所述磁体与所述磁敏元件之间配置的分隔构件中所述磁体所在一侧的表面,
具有:
第一对位工序,在该工序中,在进行所述环与所述磁敏元件的对位以使所述磁敏元件的中心位于所述环的中心轴线上后,将所述磁敏元件固定于所述分隔构件;以及
第二对位工序,该工序在所述第一对位工序之后,进行所述环与所述磁体的对位以使所述磁体的中心位于所述环的中心轴线上。
13.如权利要求12所述的磁式旋转检测装置的制造方法,其特征在于,
将凹部设于所述分隔构件,该凹部具有与所述磁敏元件的外周端部抵接的内周侧面并朝所述磁体所在一侧凹陷,
在所述第一对位工序中将所述磁敏元件固定于所述分隔构件时,使所述磁敏元件的外周端部与所述凹部的内周侧面抵接以进行该磁敏元件的定位。
14.如权利要求13所述的磁式旋转检测装置的制造方法,其特征在于,
在将所述磁敏元件固定于所述分隔构件的状态下,在所述磁敏元件与所述凹部的底部之间空有间隙。
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