[发明专利]具有在分别的接合衬底上形成的沟道、电极及半导体的电子器件无效

专利信息
申请号: 200980145876.2 申请日: 2009-09-22
公开(公告)号: CN102217072A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 郑柔妮;王宗斌;P·阿拉伽潘;S·G·玛瑟卡;I·P·M·维贾亚;I·罗德里格斯 申请(专利权)人: 南洋理工大学;新加坡科技研究局
主分类号: H01L29/66 分类号: H01L29/66
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李玲
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 具有 别的 接合 衬底 形成 沟道 电极 半导体 电子器件
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请要求2008年9月19日提交的美国临时申请S/N 61/136,626的优先权,其全部内容通过引用结合于此。

技术领域

发明一般地涉及电子器件,且更具体地涉及具有沟道、电极和半导体的电子器件,形成工艺,以及操作该器件的方法。电子器件包括场效应晶体管、传感器、存储器装置、诸如电池的电荷存储装置等。

发明背景

诸如场效应晶体管(FET)和生物传感器的电子器件通常通过在衬底上生长或沉积各种材料和结构在一系列制造阶段中形成。器件中的各种组件可通过掩模或蚀刻定形或图案化。举例而言,基于印刷电子器件的场效应晶体管(FET)、电路、生物传感器以及相关器件通常通过顺序地形成衬底、栅电极、电介质、源/漏电极、半导体以及封装来制造。

举例而言,图1示出在自然纳米技术(Nature nanotechnology)2007年卷2,185-190页的Zhou等人的“支承脂质双分子层/碳纳米管混合体(Supported lipid bilayer/carbon nanotube hydrids)”(在此称作“Zhou”)中公开的,以及在纳米快报(Nano Letters)2002年卷2,869-872页的Rosenblatt等人的“高性能电解质栅控碳纳米管晶体管(High performance electrolyte gated carbon nanotube transistors)”中公开的单壁碳纳米管FET(SWCNT-FET)的示意图。由Zhou和Rosenblatt教示的技术中,简并地掺杂的硅(Si)晶片被热生长的二氧化硅(SiO2)覆层所覆盖。在覆层上形成包含Fe(NO3)3·9H2O、MoO2(acac)2、以及氧化铝纳米颗粒的催化剂岛(未示出)。使用光刻和蚀刻在催化剂岛上形成并图案化聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)层(未示出),作为剥离掩模。之后,在覆层上的催化剂岛之间通过化学气相沉积生长CNT。接下来在催化剂岛上使用光刻和剥离工艺图案化金(Au)源和漏电极,其中催化剂和PMMA层被剥离。所得FET结构在氩环境中在600℃下进行45分钟的退火以改善CNT和电极之间的接触电阻。然后,FET结构放置在聚二甲基硅氧烷(PDMS)微流体沟道内部。该沟道含有具有液体电解质的流体。为了从电解质隔离电极,除了包含纳米管的源和漏电极之间的区域之外,该器件被氧化铝层覆盖。该工艺包括许多不同材料和处理步骤顺序。类似地构造的CNT晶体管在纳米快报(Nano Letters)的2008年卷8,591-595页的Heller等人的“用碳纳米管晶体管识别生物感测机制(Identifying the mechanism of biosensing with carbon nanotube transistors)”中公开。

发明内容

认识到需要改善的电子器件,改善的用于形成电子器件的工艺、以及改善的操作该器件的方法。

还认识到提供具有增强的电荷载流子迁移率和降低的操作电压(例如,<约2V)的诸如FET的电子器件是有利的。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南洋理工大学;新加坡科技研究局,未经南洋理工大学;新加坡科技研究局许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980145876.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top