[发明专利]涂敷膜的宽度的检查方法以及用于该检查方法的检查装置

权利要求书

1.一种涂敷膜的宽度的检查方法，是检测在长片状基材上跨越该基材的长度方向形成的涂敷膜的与该长度方向交叉的横方向的宽度的方法，其中，包括以下工序：

a).在所述长度方向上的预定的计测点，计测所述涂敷膜在所述横方向上的厚度轮廓的工序，其中所述厚度轮廓被规定为：相对于距离关于所述宽度的基准点X₀的所述横方向的距离X的、距离关于所述厚度的基准点Y₀的涂敷膜的厚度Y；

b).基于所述计测出的厚度轮廓，在所述涂敷膜的所述横方向的两个端部的各个端部附近区域作成所述距离X与所述厚度Y的函数的近似曲线的工序；以及

c).基于就所述横方向的两个端部的各个端部附近区域所得到的近似曲线、和距离预先设定的所述基准点Y₀的厚度阈值Y_t，将根据一个端部附近区域的近似曲线求出的与厚度阈值Y_t对应的距离X_e1、和根据另一个端部附近区域的近似曲线求出的与厚度阈值Y_t对应的距离X_e2看作所述横方向的两个端部，并计算该X_e1与X_e2之差X_e1-X_e2的绝对值来作为所述预定的计测点的所述涂敷膜的横方向的宽度的工序。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，

在用预定的辊对跨越所述长度方向形成有涂敷膜的所述长片状基材进行输送的途中的预定的计测点，计测所述厚度轮廓，

其中将所述辊上的与所述片状基材抵接的表面设定为关于所述厚度的基准点Y₀。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述厚度轮廓的计测是在形成于所述基材上的涂敷膜干燥之前的湿润状态时进行的。

4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的方法，其中，所述厚度轮廓的计测是在所述预定的计测点一边沿着所述涂敷膜的横方向照射激光，一边使用激光位移传感器进行的。

5.一种涂敷膜的宽度的检查装置，是检测在长片状基材上跨越该基材的长度方向形成的涂敷膜的与该长度方向交叉的横方向的宽度的装置，其中，包括：

厚度轮廓计测部，该厚度轮廓计测部在所述长度方向上的预定的计测点计测所述涂敷膜在所述横方向上的厚度轮廓，其中所述厚度轮廓被规定为：相对于距离关于所述宽度的基准点X₀的所述横方向的距离X的、距离关于所述厚度的基准点Y₀的涂敷膜的厚度Y；和

控制部，该控制部与所述厚度轮廓计测部连接，

所述控制部构成为：基于从所述厚度轮廓计测部输入的所述预定的计测点的厚度轮廓，在所述涂敷膜的所述横方向的两个端部的各个端部附近区域作成所述距离X与所述厚度Y的函数的近似曲线，并且，基于就所述横方向的两个端部的各个端部附近区域所得到的近似曲线、和距离预先设定的所述基准点Y₀的厚度阈值Y_t，将根据一个端部附近区域的近似曲线求出的与厚度阈值Y_t对应的距离X_e1、和根据另一个端部附近区域的近似曲线求出的与厚度阈值Y_t对应的距离X_e2看作所述横方向的两个端部，并计算该X_e1与X_e2之差X_e1-X_e2的绝对值来作为所述预定的计测点的所述涂敷膜的横方向的宽度。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，

包括对跨越所述长度方向形成有涂敷膜的所述长片状基材进行输送的辊，

所述厚度轮廓计测部被配置成：在用所述辊输送的途中的预定的计测点，计测所述厚度轮廓，

其中所述辊上的与所述片状基材抵接的表面被设定为关于所述厚度的基准点Y₀。

7.根据权利要求5或6所述的装置，其中，所述厚度轮廓计测部计测在形成于所述基材上的涂敷膜干燥之前的湿润状态下的所述厚度轮廓。

8.根据权利要求5至7中的任意一项所述的装置，其中，所述厚度轮廓计测部是在所述预定的计测点沿着所述涂敷膜的横方向照射激光的激光位移传感器。