[发明专利]校正装置无效

专利信息
申请号: 200980154425.5 申请日: 2009-02-12
公开(公告)号: CN102282722A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 原六蔵;森田晋一;真庭久和 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01Q3/26 分类号: H01Q3/26;H04B7/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 崔成哲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 校正 装置
【权利要求书】:

1.一种校正装置,用于对由多个传感器接收到的观测数据进行校正,该校正装置具备:

观测数据矢量生成处理部,从所述多个传感器接收所述观测数据,根据该接收到的所述观测数据生成观测数据矢量;

模式矢量关联处理部,能够计算或者能够预先存储与所述观测数据矢量对应的模式矢量,并且能够预先存储所述模式矢量的正交矢量;以及

校正用参数计算部,从所述观测数据矢量生成处理部取得所述观测数据矢量,并且从所述模式矢量关联处理部取得与该取得的所述观测数据矢量对应的所述模式矢量的所述正交矢量,根据该取得的所述正交矢量以及所述观测数据矢量,计算用于对所述观测数据矢量包含的观测误差进行校正的多个校正用参数。

2.一种校正装置,用于对由多个传感器接收到的观测数据进行校正,该校正装置具备:

观测数据矢量生成处理部,从所述多个传感器接收所述观测数据,根据该接收到的所述观测数据生成观测数据矢量;

模式矢量关联处理部,能够计算或者能够预先存储与所述观测数据矢量对应的模式矢量,并且能够计算或者能够预先存储用于计算所述模式矢量的正交矢量的傅立叶系数;以及

校正用参数计算部,从所述观测数据矢量生成处理部取得所述观测数据矢量,并且从所述模式矢量关联处理部取得与该取得的所述观测数据矢量对应的所述模式矢量以及所述傅立叶系数,根据该取得的所述模式矢量以及所述傅立叶系数计算所述模式矢量的正交矢量,根据该计算出的所述正交矢量和所述观测数据矢量,计算用于对所述观测数据矢量包含的观测误差进行校正的多个校正用参数。

3.根据权利要求2所述的校正装置,其特征在于,

所述校正用参数计算部的计算对象由多个所述校正用参数构成,是预先分割成多个规定矩阵的校正矩阵,

所述校正用参数计算部针对所述多个规定矩阵中的每一个,根据所述多个规定矩阵的相互的关系反复推测,使用该反复推测出的所述多个规定矩阵来推测所述校正矩阵。

4.一种校正装置,用于对由多个传感器接收到的观测数据进行校正,该校正装置具备:

观测数据矢量生成处理部,从所述多个传感器接收所述观测数据,根据该接收到的所述观测数据生成观测数据矢量;

模式矢量关联处理部,能够计算或者能够预先存储与所述观测数据矢量对应的模式矢量;以及

校正用参数计算部,从所述观测数据矢量生成处理部取得所述观测数据矢量,并且从所述模式矢量关联处理部取得与该取得的所述观测数据矢量对应的所述模式矢量,使用该取得的所述模式矢量和所述观测数据矢量,计算用于对所述观测数据矢量包含的观测误差进行校正的多个校正用参数,

所述校正用参数计算部的计算对象由多个所述校正用参数构成,是预先分割成多个规定矩阵的校正矩阵,

所述校正用参数计算部针对所述多个规定矩阵中的每一个规定矩阵的规定要素执行平均处理,针对所述多个规定矩阵中的每一个,根据所述多个规定矩阵的相互的关系反复推测,使用该反复推测出的所述多个规定矩阵来推测所述校正矩阵。

5.根据权利要求1~4中的任意一项所述的校正装置,其特征在于,

还具备相关矩阵计算部,计算由所述多个传感器分别接收到的多个观测数据的相关矩阵,提取该计算出的所述相关矩阵中包含的规定的矩阵元素,

所述校正用参数计算部使用由所述相关矩阵计算部提取的所述规定的矩阵元素来修正所述观测数据矢量。

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