[发明专利]温度测定系统以及温度测定方法

权利要求书

1.一种温度测定系统，其特征在于，包括：

激光光源，该激光光源输出激光；

光纤，该光纤被铺设于温度测定区域，所述激光入射到所述光纤中； 以及

温度测定部，检测入射到所述光纤内的所述激光的后方散射光，取得 沿所述光纤的铺设路径的所述温度测定区域的温度的测定温度分布，并且 修正该测定温度分布，计算修正温度分布；

其中，

所述温度测定部为使沿所述铺设路径的所述光纤的传递函数与所述修 正温度分布的卷积、与所述测定温度分布之间的平方误差在每次修正时变 小，而对该测定温度分布逐次地进行多次修正，并且每当进行各次的修正 时将所述铺设路径的特定点处的修正后的温度替换成该特定点处的推断温 度。

2.根据权利要求1所述的温度测定系统，其特征在于，

所述特定点是在所述光纤被重复地配置的区间内存在的多个温度测定 点，

所述推断温度是所述修正温度分布中所述多个温度测定点的平均温 度。

3.根据权利要求1所述的温度测定系统，其特征在于，

所述特定点是在所述铺设路径中保持固定温度的区间内存在的多个温 度测定点，

所述推断温度是在所述测定温度分布中所述多个测定点之中的一个的 温度，或者是所述多个测定点的平均温度。

4.根据权利要求3所述的温度测定系统，其特征在于，

所述区间的长度是大于等于所述光纤的传递函数的第三个零点的绝对 值的长度。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的温度测定系统，其特征在于，

在所述温度测定区域中存在已经知道温度大于等于预定温度的部分的 情况下，当该部分处的修正后的温度变得低于所述预定温度时，将该部分 处的所述修正后的所述温度替换成所述预定温度。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的温度测定系统，其特征在于，

在所述温度测定区域中存在已经知道温度小于等于预定温度的部分的 情况下，当该部分处的修正后的温度变得高于所述预定温度时，将该部分 处的所述修正后的所述温度替换成所述预定温度。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的温度测定系统，其特征在于，

所述温度计测区域包含在计算机室内容纳多台计算机的机架内的区 域。

8.根据权利要求7所述的温度测定系统，其特征在于，

所述光纤沿着所述机架的排气侧的门而配置。

9.根据权利要求7所述的温度测定系统，其特征在于，

所述光纤在所述机架的外侧具有卷绕部，并且在对应于容纳在所述机 架内的所述计算机的排气口的位置上具有卷绕部。

10.一种温度测定方法，其特征在于，包括：

向铺设于温度测定区域的光纤入射激光，检测所述光纤内的所述激光 的后方散射光，取得沿所述光纤的铺设路径的所述温度测定区域的温度的 测定温度分布的步骤；以及

修正所述测定温度分布，取得修正温度分布的步骤；

在取得所述修正温度分布的步骤中，为使沿所述铺设路径的所述光纤 的传递函数与所述修正温度分布的卷积、与所述测定温度分布之间的平方 误差在每次修正时变小，而对该测定温度分布逐次地进行多次修正，并且 每当进行各次的修正时，将所述铺设路径的特定点处的修正后的温度替换 成该特定点处的推断温度。

11.根据权利要求10所述的温度测定方法，其特征在于，

在取得所述修正温度分布的步骤中，当所述平方误差的减小量变得小 于等于预定值时结束所述修正。

12.根据权利要求10所述的温度测定方法，其特征在于，

所述特定点是在所述光纤被重复地配置的区间内存在的多个温度测定 点，

所述推断温度是所述修正温度分布中所述多个温度测定点的平均温 度。