[发明专利]温度测定系统以及温度测定方法有效

专利信息
申请号: 200980158413.X 申请日: 2009-12-22
公开(公告)号: CN102365536A 公开(公告)日: 2012-02-29
发明(设计)人: 笠屿丈夫;宇野和史;武井文雄 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01K11/12 分类号: G01K11/12
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 柳春雷
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 温度 测定 系统 以及 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及温度测定系统以及温度测定方法。

背景技术

在计算机室或网络数据中心(IDC)中,存在伴随着服务器等的电子设备 的高密度化而电子设备的发热量急速增大的倾向,适当地冷却这些电子设 备是令人期待的。

作为冷却电子设备的方法,例如,存在为了防止产生过度的热聚积而 控制室内的气流的方法,或者通过空调对室内进行冷却的方法。

为了通过这些方法使室内始终保持最适宜的冷却状态,始终监控室内 的温度测试点是有效的。尤其是,如果能够把握室内的三维的温度分布, 那么利用该温度分布来控制空调等就能够使室内保持最适宜的冷却状态。

作为测定那样的温度分布的方法,已经知道的有将光纤用作温度传感 器的方法。

但是,使用了光纤的温度测定中,虽然高精度地测定广阔范围的温度 比较容易,但是高精度地测定如数据中心内的服务器等这样的狭窄范围的 温度的方法还没有确立起来。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利文献特开2004-28748号公报

专利文献2:日本专利文献特开平6-109557号公报

非专利文献1:株式会社富士通研究所PRESS RELEASE“开发面对 数据中心的实时多点温度测定技术”2008年4月4日

发明内容

发明所要解决的问题

本发明的目的是在温度测定系统和温度测定方法中高精度地测定温 度。

用于解决问题的手段

根据以下公开的一个观点,提供一种温度测定系统,所述温度测定系 统包括:输出激光的激光光源;铺设于温度测定区域,入射所述激光的光 纤;以及检测入射到所述光纤内的所述激光的后方散射光,取得沿所述光 纤的铺设路径的所述温度测定区域的温度的测定温度分布,并且修正该测 定温度分布,计算修正温度分布的温度测定部;其中,所述温度测定部为 使沿所述铺设路径的所述光纤的传递函数与所述修正温度分布的卷积、与 所述测定温度分布之间的平方误差在每次进行修正时变小,而对该测定温 度分布逐次地进行多次修正,并且每当进行各次的修正时将所述铺设路径 的特定点处的修正后的温度替换成该特定点处的推断温度。

另外,根据该公开的其他的观点,提供一种温度测定方法,该温度测 定方法包括:向铺设于温度测定区域的光纤入射激光,检测所述光纤内的 所述激光的后方散射光,取得沿所述光纤的铺设路径的所述温度测定区域 的温度的测定温度分布的步骤;以及修正所述测定温度分布取得修正温度 分布的步骤;在取得所述修正温度分布的步骤中,为使沿所述铺设路径的 所述光纤的传递函数与所述修正温度分布的卷积、与所述测定温度分布之 间的平方误差在每次进行修正时变小,而对该测定温度分布逐次地进行多 次修正,并且每当进行各次的修正时将所述铺设路径的特定点处的修正后 的温度替换成该特定点处的推断温度。

发明的效果

根据公开的温度测定系统和温度测定方法,对测定温度分布逐次地进 行修正,每当进行各次的修正时,通过将光纤的铺设路径的特定点的修正 后的温度替换成该特定点的推断温度,明显地使修正温度分布接近实际温 度分布。

附图说明

图1是示出适用了本实施方式的计算机室的结构的示意图;

图2是示出光纤的铺设例的截面图;

图3是示出本实施方式所涉及的温度测定系统的构成的示意图;

图4是示出在光纤中后方散射后的光的光谱的图;

图5是示出拉曼散射光的强度的时间序列分布的一个例子的图;

图6是基于图5的拉曼散射光的强度的时间序列分布按时间计算I1/I2比而得到的图;

图7是示出使用本实施方式所涉及的温度计测系统而得到的测定温度 分布的图;

图8是由步进型的实际温度分布得到的温度计测系统的传递函数;

图9是示出将传递函数经傅里叶变换得到的函数的图;

图10是示出通过本实施方式所涉及的温度测定系统测定温度以比较 高的空间频率变化的实际温度分布并由其得到的测定温度分布的图;

图11是示出用于测定温度分布的修正的反滤波器的一个例子的图;

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