[发明专利]具有多个马赫-增德尔干涉仪的光调制器的特性测评方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有多个马赫-增德尔干涉仪(MZI)的光调制器的特性测评方法。具体一点说，本发明涉及一种能够不使用输出信号中的0次成分而对具有多个马赫-增德尔干涉仪的光调制器的特性进行测评的方法。

背景技术

在很多的光信息通信系统中要使用光调制器，因而，掌握光调制器的特性是很重要的。作为确定光调制器的性能的参数而言，有插入损耗、调制指数、半波长电压(Vπ)、光带、开关消光比、偏振光消光比、线性调频信号参数(Chirp Parameter)等。现有技术中，有人研究了测评光调制器特性的方法，并公开了几种测评方法。

在日本发明专利授权公报3538619号中公开有这样一种发明：测定具有一个马赫-增德尔干涉仪(MZI)的MZ型光调制器的功率谱，用所测得的功率谱求得调制指数。

在日本发明专利授权公报3866082号中公开有这样一种发明：由具有一个MZI的MZ型光调制器的光谱分布求得光调制器的半波长电压与线性调频信号参数。

另外，近年来逐渐开发出了包含多个MZI的光调制器。并且人们希望能够测评这样的光调制器中的各个MZI的特性。然而，现有的测评光调制器的特性的方法中存在不能恰当地进行测评的问题。

专利文献1：日本发明专利授权公报3538619号

专利文献2：日本发明专利授权公报3866082号

发明内容

本发明所要解决的技术问题

本发明的目的在于提供一种测评具有多个MZI的光调制器的特性的方法。

解决技术问题的技术方案

通常，在光调制器中，0次成分的强度是非常大的(占绝对地位)，因而其难以受到噪音等的影响，所以，在现有技术中使用光调制器的输出光的0次成分来测评光调制器的特性。然而，在光调制器包含多个MZI时，0次成分中含有来自于除了所要测评的MZI之外的其他MZI的成分，因而，此时使用0次成分测评光调制器的特性的话，不能准确地测评作为测评对象的MZI的特性。在本发明中，不使用通常强度最高的0次成分来测评光调制器的特性。即，作为基本方案，本发明涉及一种使用边频对光调制器的特性进行测评的方法。如此，通过使用边频来测评包含多个MZI的光调制器的特性，从而能够精确地测评MZI以及包含MZI的光调制器的特性。

本发明第1方面涉及一种包含多个马赫-增德尔干涉仪(MZI)的光调制器的特性的测评方法。设所述光调制器包含并联的N个(N为2以上的整数)MZI。并且，测评对象MZI为第K个MZI(MZI_K)，所述MZI_K的n次边频成分的强度为S_n，k。所述方法包括测定输出光强度的步骤与测评MZI的特性的步骤。所述测定输出光强度的步骤为求得所述光调制器所输出的输出光中所包含的边频信号的强度(S_n，K)的步骤。所述测评MZI的特性的步骤为用所述S_n，k测评所述MZI_K的特性的步骤。

本发明第1方面的优选方式为，还包括调整所述多个MZI中所述MZI_K以外的MZI上被施加的偏置电压，抑制从所述光调制器输出的输出光中所包含的0次成分的步骤。并且，由所述抑制所述0次成分的步骤抑制了所述光调制器的0次成分后，进行所述测定输出光强度的步骤，求得所述光调制器所输出的输出光中所包含的边频信号的强度(S_n，K)。

本发明第1方面的优选方式为，所述测评MZI的特性的步骤包括以下步骤：判断所述MZI_K的n次边频成分S_n，k(n≠0)的强度与所述MZI_K的-n次边频成分S_-n，k(n≠0)的强度之差或之比是否在规定的阈值以下，从而测评所述MZI_K的不齐量。