[发明专利]三维测量装置有效

专利信息
申请号: 201010002371.5 申请日: 2010-01-12
公开(公告)号: CN101782525A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 石垣裕之 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种三维测量装置,其包括:

照射机构,该照射机构可至少对被测量物,照射具有条纹状的 光强度分布且由平行光构成的图案光;

摄像机构,该摄像机构可对来自照射了上述图案光的被测量物 的反射光进行摄像;

图像处理机构,该图像处理机构至少根据通过上述摄像机构摄 制的图像数据,进行上述被测量物上的各坐标位置的高度测量,

其特征在于三维测量装置包括补偿运算机构,该补偿运算机构 至少根据上述摄像机构的高度信息,与对上述被测量物照射的图案 光的照射角信息,对相对通过上述图像处理机构测量的上述被测量 物上的测量对象点的坐标数据和高度数据,由上述摄像机构的透镜 的视场角产生的偏差进行补偿;

上述摄像机构设置于上述被测量物的正上方;

上述照射机构设置于上述被测量物的斜上方;

上述补偿运算机构:

以上述被测量物的摄像面为基准的上述摄像机构的透镜的主 点的高度Lco构成上述摄像机构的高度信息,从上述照射机构照射 的图案光的光线和上述摄像面之间的角度α为上述图案光的照射 角信息,

通过下述式(a)、(b),根据上述测量对象点的表观的坐标数据 X1和高度数据Z1,计算上述测量对象点的真正的坐标数据X0和 高度数据Z0,该式(a)、(b)为:

Z0=Lco·Z1/(Lco-X1·tanα)           ……(a)

X0={1-Z1/(Lco-X1·tanα)}·X1        ……(b)。

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