[发明专利]三维测量装置有效
申请号: | 201010002371.5 | 申请日: | 2010-01-12 |
公开(公告)号: | CN101782525A | 公开(公告)日: | 2010-07-21 |
发明(设计)人: | 石垣裕之 | 申请(专利权)人: | CKD株式会社 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 11216 | 代理人: | 刘激扬 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 测量 装置 | ||
1.一种三维测量装置,其包括:
照射机构,该照射机构可至少对被测量物,照射具有条纹状的 光强度分布且由平行光构成的图案光;
摄像机构,该摄像机构可对来自照射了上述图案光的被测量物 的反射光进行摄像;
图像处理机构,该图像处理机构至少根据通过上述摄像机构摄 制的图像数据,进行上述被测量物上的各坐标位置的高度测量,
其特征在于三维测量装置包括补偿运算机构,该补偿运算机构 至少根据上述摄像机构的高度信息,与对上述被测量物照射的图案 光的照射角信息,对相对通过上述图像处理机构测量的上述被测量 物上的测量对象点的坐标数据和高度数据,由上述摄像机构的透镜 的视场角产生的偏差进行补偿;
上述摄像机构设置于上述被测量物的正上方;
上述照射机构设置于上述被测量物的斜上方;
上述补偿运算机构:
以上述被测量物的摄像面为基准的上述摄像机构的透镜的主 点的高度Lco构成上述摄像机构的高度信息,从上述照射机构照射 的图案光的光线和上述摄像面之间的角度α为上述图案光的照射 角信息,
通过下述式(a)、(b),根据上述测量对象点的表观的坐标数据 X1和高度数据Z1,计算上述测量对象点的真正的坐标数据X0和 高度数据Z0,该式(a)、(b)为:
Z0=Lco·Z1/(Lco-X1·tanα) ……(a)
X0={1-Z1/(Lco-X1·tanα)}·X1 ……(b)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CKD株式会社,未经CKD株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010002371.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。