[发明专利]检测DNA碱基突变的方法有效

专利信息
申请号: 201010002602.2 申请日: 2008-04-07
公开(公告)号: CN101838688A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 王树;贺芳 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68;G01N21/64
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅;任凤华
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 dna 碱基 突变 方法
【权利要求书】:

1.一种检测DNA中是否存在碱基突变的方法,依次包括以下步骤:

1)制备单链多核苷酸K1,所述K1与待测DNA的正常序列完全互补;

2)制备单链多核苷酸K2,所述K2的中间部分具有脱氧核酶活性,K2与K1至少有15nt完全互补,而且包含有至少10nt的脱氧核酶序列,K2与K1头尾至少各有6nt不互补;

3)制备脱氧核酶底物S,用荧光素标记S;底物S的DNA部分与K2完全互补,底物S中间有包含两个特异的RNA碱基的酶切位点;

4)将K1和K2混合,然后加入底物S,加入待测DNA和下述式(I)的化合物,同时设置加入由待测DNA的正常序列组成的DNA片段和下述式(I)的化合物的对照体系,按照如下方法确定待测DNA是否存在突变:若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm小于等于对照体系的1.595±0.06,待测DNA存在碱基突变;若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm等于对照体系的3.08±0.1,待测DNA不存在碱基突变;所述I424nm为发射波长为424nm的发射峰的荧光强度;所述I527nm为发射波长为527nm的发射峰的荧光强度。

式(I);

式(I)中,m=1~10,n=2~100;R1,R2,R3,R4=CXH2X+1或-O(CXH2X+1),x=1~10;R5=CXH2X+1,x=1~3;R6=Br、Cl、I、CF3COO或CH3COO。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述式(I)中,m=6、n=6、R1=H、R2=H、R3=H、R4=H、R5=CH3、R6=Br。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述式(I)中,m=6、n=6、R1=H、R2=H、R3=H,、R4=H、R5=CH2CH3、R6=I。

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