[发明专利]一种LED芯片角度快速调校方法

权利要求书

1.一种LED芯片角度快速调校方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、驱动图像识别系统对芯片膜进行识别，获取所述芯片膜上芯片i的原始位置坐标X_i，Y_i及偏转角度θ_i，其中，i＝1，2，3...n，n为所述芯片膜上芯片的总颗数；

B、获取所述芯片膜的旋转中心的位置坐标O_x，O_y；

C、以所述芯片膜上芯片i的原始位置坐标X_i，Y_i、偏转角度θ_i及所述芯片膜的旋转中心的位置坐标O_x，O_y，反算所述芯片i理论旋转后的理论位置坐标X′_i，Y′_i；

D、在-15°至15°的芯片角度偏转范围内，以角度间隔值对其划分角度区间，将所述芯片i的偏转角度θ_i归入所述角度区间内，设所述角度区间的数量为s；

E、获取s角度区间中的上限值和下限值，计算所述s角度区间中的上限值和下限值之间的中间值为该角度区间的旋转中心角度；

F、判断所述s角度区间中是否存在旋转中心角度为0°的角度区间，若是，则选取旋转中心角度为0°的角度区间作为第p角度区间，其中，p＝1；否则，选取所述s角度区间中的其中一个角度区间作为第p角度区间，并将所述芯片膜按照该角度区间的旋转中心角度进行实际旋转，其中，p＝1；

G、选取所述第p角度区间中的芯片m，其中，m＝1，设该角度区间中所包含的芯片总颗数为h；

H、将所述第p角度区间中的芯片m以该芯片理论旋转后的理论位置坐标X′_m，Y′_m进行移动定位，并驱动图像识别系统对该芯片进行识别，获取该芯片理论旋转后的理论位置坐标X′_m，Y′_m与该芯片实际旋转后的实际位置坐标间的偏差λ_x，λ_y；

其中，m为所述第p角度区间中所有芯片中的其中一颗芯片；

I、判断所述步骤H中的偏差λ_x，λ_y是否大于某一阈值，若是，则根据所述偏差λ_x，λ_y对所述步骤B中获取的芯片膜的旋转中心的位置坐标O_x，O_y进行修正，再按照修正后的旋转中心的位置坐标O′_x，O′_y，重新反算修正后的该芯片理论旋转后的理论位置坐标X″_m，Y″_m，并按照修正后的该芯片理论旋转后的理论位置坐标X″_m，Y″_m移动进行芯片位置校正；否则，按照该芯片理论旋转后的理论位置坐标X′_m，Y′_m移动进行芯片位置校正；

J、判断m是否等于h，若是，则结束该角度区间的所有芯片的角度调校，继续步骤K；否则，m＝m+1，直接返回步骤H；

K、继续判断p是否等于s，若是，则结束该芯片膜上全部芯片的角度调校；否则，将所述芯片膜旋转所述角度间隔值，且p＝p+1，直接返回步骤G。

2.根据权利要求1所述的LED芯片角度快速调校方法，其特征在于，所述步骤B具体包括：

B1、标定所述芯片膜上的其中一颗芯片为特定芯片；

B2、驱动所述芯片膜旋转不同的角度，分别记录每次旋转时所述特定芯片的位置坐标，并将所述位置坐标存储至样本集，其中，所述样本集为相对于所述芯片膜的旋转中心的圆上坐标；

B3、根据所述步骤B2中的样本集，利用最小二乘法计算所述芯片膜的拟合圆方程，从而获取所述芯片膜的旋转中心的位置坐标O_x，O_y。