[发明专利]检测装置

说明书

技术领域

本发明是有关于一种检测装置，且特别是有关于一种用以检测物体的平整度的检测装置。

背景技术

现有测量物体平整度的技术不外乎是以塞规或是以三次元量测仪进行。前者需要先行在待测物上确定一个基准平面，之后再于待测点上逐一用塞规以试误法逐次进行测量。然此举不但在测量的过程中需花费较长的时间，且所测量的范围也仅限于待测物的边缘，一旦待测物的面积较大，便无法对待测物的中央部分进行测量，其所测量到的数值的离散程度较大，因而无法得到较准确的测量值。

另外，若以三次元量测仪进行平整度测量，虽能确保所量测的数值较上述方式精确。然而，此等设备的花费较为昂贵，且需先行制作承靠治具，方能将待测物装设在三次元量测仪的量测平台上。如此一来，当待测物的外型尺寸变更，则势必需另行制作承靠治具，进而使花费在承靠治具上的制作过程及成本大幅增加。

发明内容

本发明提供一种检测装置，用以方便地检测物体的平整度。

本发明的一实施例提出一种检测装置，用以检测一物体的平整度。检测装置包括一平台、一第一测量单元、一连接件以及一第二测量单元。物体适于装设在平台上。第一测量单元立设于平台上且包括一第一千分尺。连接件装设于第一千分尺尚且与第一千分尺同步移动。第二测量单元包括一滑动件与一第二千分尺。滑动件可拆卸地耦接于连接件。第二千分尺装设于滑动件上。滑动件藉由连接件而随着第一千分尺同步移动。

作为优选的方案：

在本发明的一实施例中，上述的滑动件具有一凹槽，滑动件通过凹槽与连接件相嵌合，且滑动件相对连接件可移动，以调整第二千分尺相对于第一千分尺的距离。

在本发明的一实施例中，上述的滑动件还具有一基准面，朝向平台，此基准面用以归零第一千分尺与第二千分尺。

在本发明的一实施例中，上述的连接件与滑动件的至少其中之一为一磁性元件。

在本发明的一实施例中，上述的平台包括一基座与一托盘。第一测量单元立设于基座上。托盘可移动地组装于基座上，而物体适于装设于托盘上。

在本发明的一实施例中，上述的平台更包括一调整器，组装于基座上并连接托盘，调整器用以调整托盘相对于基座的距离。

在本发明的一实施例中，上述的第一测量单元还包括一支撑臂，连接于基座。第一千分尺装设于支撑臂上。

基于上述，在本发明的上述实施例中，检测装置藉由连接件与滑动件之间的配合，而使两个千分尺得以整合在一起，进而藉由调整此两个千分尺之间的相对距离与利用滑动件的基准面，而让使用者得以方便地藉由检测装置测量物体的平整度。

附图说明

图1是本发明一实施例的一种检测装置的示意图。

图2是图1的检测装置于归零状态的示意图。

图3是图1的检测装置于测量凹形待测物的示意图。

图4是图1的检测装置于测量凸形待测物的示意图。

图5是图1的检测装置于测量凹凸形待测物的示意图。

图中：

100：检测装置                  110：平台

112：基座                      114：托盘

116：调整器                    120：第一测量单元

122：第一千分尺                122a：套管

122b：旋钮                     122c、144a：测头

124：支撑臂                    130：连接件

140：第二测量单元              142：滑动件

142a：凹槽                     142b：基准面

144：第二千分尺                200、300、400：待测物

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

图1是本发明一实施例的一种检测装置的示意图。请参考图1，在本实施例中，检测装置100用以检测一物体的平整度，此检测装置100包括一平台110、一第一测量单元120、一连接件130以及一第二测量单元140。物体适于装设在平台110上。第一测量单元120立设于平台110上，且第一测量单元120包括一第一千分尺122。连接件130装设于第一千分尺122上，且连接件130与第一千分尺122同步移动。