[发明专利]透明材料的厚度检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及测量技术领域，尤其涉及一种透明材料的厚度检测方法和装置。

背景技术

玻璃容器的壁厚是直接影响容器质量的重要特征参数，在玻璃容器的生产过程中，对玻璃容器的壁厚进行准确、快速的测量，是提高玻璃容器质量的前提条件。

现有技术中可以使用接触式测量技术对玻璃容器的壁厚进行测量，并且在石英管壁厚的测量方法，采用激光扫描技术研制开发了小测量范围的壁厚测量系统，且上述的玻璃容器壁厚测量设备大多只能以抽检的方式对石英管壁厚进行测量。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：现有技术中的无法实现对生产过程中的玻璃容器等透明材料的壁厚进行快速、准确的在线测量。

发明内容

本发明实施例提供一种透明材料的厚度检测方法和装置，用以实现对生产过程中的透明材料的壁厚进行快速、准确的在线测量。

本发明实施例提供了一种透明材料的厚度检测装置，包括光学测量系统、光学分析系统和数据处理系统，其中

光学测量系统包括宽带光源、输入光纤、光纤耦合器、接收光纤以及包括至少一个透镜的光学发射系统，所述宽带光源发出的光经输入光纤、光纤耦合器传输到光学发射系统，被测透明材料反射的光经光纤耦合器、接收光纤传输到所述光学分析系统；

所述光学分析系统用于对接收到的被测透明材料的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值；

所述数据处理系统用于根据所述光学分析系统获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度。

本发明实施例还提供了一种透明材料的厚度检测方法，包括：

宽带光源发出的光经输入光纤、光纤耦合器传输到光学发射系统，并由所述光学发射系统输出到被测量透明材料；

接收所述被测量透明材料的反射光，并由光纤耦合器、接收光纤传输到光学分析系统；

光学分析系统对接收到的被测透明材料的反射光进行分析以获取反射峰对应的波长值；

数据处理系统根据所述光学分析系统获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度。

本发明上述实施例提供的透明材料的厚度检测方法和装置，使用宽带光源作为输出光，通过检测反射光中两个反射峰对应的波长，并由数据处理系统根据上述获取的反射峰对应的波长值获取被测透明材料的厚度，能够实现准确、快速的对透明材料的厚度进行在线测量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明透明材料的厚度检测装置实施例的结构示意图；

图2为图1所示实施例中厚度检测装置的装置示意图；

图3为本发明具体实施例中光学发射系统的原理示意图一；

图4为本发明具体实施例中光学发射系统的原理示意图二；

图5为本发明透明材料的厚度检测方法实施例的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

针对现有技术中无法实现对透明材料的厚度进行迅速、准确的在线测量的缺点，本发明实施例提供了一种透明材料的厚度检测装置，图1为本发明透明材料的厚度检测装置实施例的结构示意图，如图1所示，该装置包括光学测量系统11、光学分析系统12和数据处理系统13，其中光学测量系统11主要用于输出宽带光源，并采集被测量的透明材料返回的反射光，光学分析系统12是一个进行光谱分析的分光系统，能够检测出反射光中能量最前的波长值，数据处理系统13基于上述获取的波长值进行计算以获取被测透明材料的厚度。