[发明专利]基于非均匀采样的图像校正系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010106890.6 申请日: 2010-02-08
公开(公告)号: CN101778200A 公开(公告)日: 2010-07-14
发明(设计)人: 王晓年;蒋伟平;蒋平;朱劲 申请(专利权)人: 王晓年
主分类号: H04N5/208 分类号: H04N5/208
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 201804上海市嘉定区曹*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 均匀 采样 图像 校正 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于图像处理技术领域,涉及一种图像处理系统,尤其涉及一种基于 非均匀采样的图像校正系统;此外,本发明还涉及一种基于非均匀采样的图像校 正方法。

背景技术

射影变换是两个平面之间的映射关系,即使位于同一平面的物体,他们的图 像也会发生射影畸变。在畸变的图像中,原本平行的直线不再平行,给后期图像 处理带来很多不便。为了恢复欧氏空间的度量关系,现有的校正方法都是在得到 畸变的数字图像后,通过计算校正射影畸变。

由于摄像机的像平面与被拍摄平面很可能不平行,将引起拍摄图像的射影畸 变,这与相机本身没有任何关系,而与摄像机的安装高度和倾角有关。图像出现 射影畸变后,被拍摄平面上原来平行的直线在图像中变得不平行,比如拍摄的铁 轨可能在图像中相交;被拍摄平面上原来为矩形的物体变成梯形,比如从倒车用 摄像机看到的地砖变成梯形。还有很多情形,比如在移动机器人拍摄到的地面信 息中也存在这种现象。另外,即便摄像机的像平面与被拍摄平面完全平行,图像 空间也无法度量被拍摄平面上的距离信息,此种情况可认为是投影畸变的一种退 化情形。射影畸变后的图像给后期的处理和模式识别带来很多不便。

根据小孔成像原理,设有空间任意点[XM YM ZM]T,其对应像点的坐标为[xu yv1]T 则有如下关系式:

sxuyv1=K·T·XMYMZM1---(1)]]>

其中K为摄像机的内参数矩阵;T为摄像机的外参数矩阵;S为比例因子, 与摄像机的安装高度和倾角有关。

设Z轴垂直于被拍摄平面。即在该平面上Z=0,则该平面内任意一点坐标 为[XM YM 0]T。令T=[r1,r2,r3,t],重新整理式(1),可得: 记M=[XM YM 1]T,H=K·[r1,r2,t],则 有因为单应矩阵H满秩,因此也有:

M=sH-1·m~---(2)]]>

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