[发明专利]一种连铸结晶器对中测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201010106972.0 申请日: 2010-02-02
公开(公告)号: CN101788291A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 王兴东;董元龙;高全杰;龙辽沙;张留刚;谢海华;刘昀;韩道旺 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: G01C15/06 分类号: G01C15/06
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 樊戎
地址: 430081 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 结晶器 测量 装置 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种连铸结晶器对中测量装置,其特征在于该装置包括传感器(1)、检测 杆(5)、滑动装置(6)、支撑调整架(7)和数显表(9);安装板(18)固定在所述滑动装 置(6)中的壳体(13)上,所述安装板(18)的下平面与所述壳体(13)的中心线垂直, 所述安装板(18)通过紧固螺栓固定在所述支撑调整架(7)的平台上;所述检测杆(5) 与蜗轮(16)同中心地安装在所述壳体(13)中,所述检测杆(5)的下端安装有所述传 感器(1),所述传感器(1)通过电缆(10)与所述数显表(9)连接;

所述滑动装置(6)的结构是:蜗杆(15)通过轴承(14)安装在所述壳体(13)中, 所述蜗杆(15)与所述蜗轮(16)啮合,所述蜗轮(16)的内圆加工有内螺纹,所述检 测杆(5)最上端设置有滑块,在距所述滑块下平面30~50mm处的所述检测杆(5) 上加工有外螺纹,所述蜗轮(16)和所述检测杆(5)为螺纹联接;所述蜗轮(16)的上 端面和下端面分别装有上止推轴承(17)和下止推轴承(20),所述上止推轴承(17) 的上端面和所述下止推轴承(20)的下端面分别装有上支撑块(19)和下支撑块 (21);所述检测杆(5)、蜗轮(16)、上止推轴承(17)、下止推轴承(20)、上支撑块(19) 和下支撑块(21)均与所述壳体(13)同中心安装。

2.根据权利要求1所述的连铸结晶器对中测量装置,其特征在于所述的传 感器(1)或为超声波传感器或为激光传感器。

3.根据权利要求1所述的连铸结晶器对中测量装置,其特征在于所述的壳 体(13)为方筒状,所述方筒状由一个“凹”形体(23)和另一个“凹”形体(24)组成;所 述壳体(13)上端空心部分为滑道,所述滑块安装在所述滑道内,所述滑块的横截 面与所述滑道的横截面相同,均为正方形。

4.根据权利要求1所述的连铸结晶器对中测量装置,其特征在于所述的检 测杆(5)上分别设有测量外侧足辊(11)和测量外侧支承辊(12)所对应的标记I-II 和III-IV。

5.根据权利要求1所述的连铸结晶器对中测量装置,其特征在于所述的支 撑调整架(7)为摄像机或照相机的专用云台,所述云台上有水平仪。

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