[发明专利]用于荧光分析仪上的X射线检测方法

权利要求书

1.一种用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，它是波长色散和能量色 散相结合的检测方法，包括步骤：

A、利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；

B、对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据；

C、将步骤A中得到的分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理

D、对分离前的特征X射线用另外的X射线探测器检测，得到光谱数据；

E、将步骤D中检测到的分离前的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理；

F、用步骤E中处理后的数据对步骤C中的数据进行修正，用于对步骤A中分离出来的 被测对象进行分析。

2.根据权利要求1所述的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，所述步 骤F之后还包括步骤：

用步骤E中处理后的数据对步骤A中未被分离出来的元素进行分析。

3.根据权利要求2所述的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，所述未 被分离出来的元素指低品位元素和/或非金属元素。

4.根据权利要求1所述的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在于，所述用 能量色散的方法进行处理包括：

根据先验知识，对于不存在谱峰重叠的特征X射线，用高斯拟合方法进行处理；对存 在谱峰重叠的情况，进行谱峰分解处理。

5.根据权利要求1至3任一项所述的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其特征在 于，最后还包括步骤：

当被测对象物理性质有一定变化时，根据步骤C或步骤E处理后的数据建立品位分析 模型。