[发明专利]用于荧光分析仪上的X射线检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于荧光品位分析仪上的X射线检测方法，尤其涉及一种用于荧光分 析仪上的X射线检测方法。

背景技术

选矿行业常用X荧光分析仪对矿浆品位进行在线检测，及时调整工艺以保证产品指 标。元素特征X射线的谱峰检测是X射线荧光分析技术的关键，其检测精度直接影响品位 分析精度。

目前选矿行业中，有基于两种工作原理的在线X荧光品位分析仪，一种是波长色散 型；另一种是能量色散型。波长色散型是利用分光晶体将不同元素的特征X射线分离出来 得到某个元素的谱峰，能量色散型则是用软件算法对重叠的谱峰进行分解。

上述现有技术至少存在以下缺点：

分析方法单一，谱峰识别的精度低，分析仪的品位分析精度低。

发明内容

本发明的目的是提供一种谱峰识别的精度高，分析仪的品位分析精度高的用于荧光 分析仪上的X射线检测方法。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，它是波长色散和能量色散相结合的检 测方法，包括步骤：

A、利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；

B、对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据；

C、将步骤A中得到的分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明所述的用于荧光分析仪上的X射线检 测方法，由于它是波长色散和能量色散相结合的检测方法，首先，利用布拉格定律将被 测对象的特征X射线分离出来；然后对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光 谱数据，并对分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。用两种方法处 理后的数据进行品位计算，相比单用一种分析方法，可提高品位分析精度，尤其适用于 被测对象的物理性质变化较大、低品位测量和非金属元素测量的情况。

具体实施方式

本发明的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，其较佳的具体实施方式是：

它是波长色散和能量色散相结合的检测方法，具体包括步骤：

A、利用布拉格定律将被测对象的特征X射线分离出来；

B、对分离出来的特征X射线用X射线探测器检测，得到光谱数据；

C、将步骤A中得到的分离后的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理。

所述步骤C之后还可以包括步骤：

D、对分离前的特征X射线用另外的X射线探测器检测，得到光谱数据；

E、将步骤D中检测到的分离前的特征X射线的光谱数据用能量色散的方法进行处理；

F、用步骤E中处理后的数据对步骤C中的数据进行修正，用于对步骤A中分离出来的 被测对象进行分析。

所述步骤E之后还可以包括步骤：

用步骤E中处理后的数据对步骤A中未被分离出来的元素进行分析，所述未被分离出 来的元素指低品位元素和/或非金属元素等。

上述的步骤C和E中，用能量色散的方法进行处理包括：

根据先验知识，对于不存在谱峰重叠的特征X射线，用高斯拟合方法进行处理；对存 在谱峰重叠的情况，进行谱峰分解处理。

最后还可以包括步骤：

当被测对象物理性质有一定变化时，根据步骤C或步骤E处理后的数据建立品位分析 模型。

本方法的用于荧光分析仪上的X射线检测方法，是一种用于X荧光品位分析仪上的X射 线检测方法，本发明中：

首先，进行分光处理；然后，对分光后的光谱数据进行能量色散处理，包括高斯拟 合处理和谱峰分解处理，其中，谱峰分解是针对被测对象组分比较复杂的情况，即两种 元素含有相同波长的特征X射线；

本发明中，还单独用一个高分辨率的X射线探测器检测分光前的所有元素的特征X射 线并用能量色散的方法进行谱峰计算，结合其他几个探测器的光谱数据，进行特征X射线 的谱峰计算。

分光是波长色散的原理，对分光后的谱峰再次进行高斯拟合处理和谱峰分解处理是 能量色散的原理，加上用能量色散方法处理分光前的X射线光谱数据，用两种方法处理后 的数据进行品位计算，相比单用一种分析方法，可提高品位分析精度，尤其适用于被测 对象的物理性质变化较大、低品位测量和非金属元素测量的情况。