[发明专利]光学测量设备

权利要求书

1.一种光学测量设备，用于测量至少一待测件的厚度，其特征在于，该光学测量设备包括：

一基座；

一光学测量模块，配置于该基座上；

一转动件，配置于该基座上，该转动件用于承载该待测件，并带动该待测件转动；以及

一控制模块，配置于该基座上，且电性连接至该光学测量模块及该转动件，该控制模块适于控制该光学测量模块与该转动件相对移动，使该光学测量模块对准该待测件，并控制该转动件转动，以测量该待测件的该厚度。

2.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该光学测量模块包括：

一可动式支架，配置于该基座上；以及

一光学测量件，配置于该可动式支架上，而该可动式支架适于将该光学测量件移动至该待测件上方。

3.根据权利要求2所述的光学测量设备，其特征在于，该光学测量件包括一激光测量头。

4.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该光学测量模块包括：

一固定式支架，配置于该基座上；以及

一光学测量件，配置于该固定式支架上，而该转动件更适于移动，以将该待测件移至该光学测量件下方。

5.根据权利要求4所述的光学测量设备，其特征在于，该光学测量件包括一激光测量头。

6.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该光学测量模块包括：

一第一固定式支架，配置于该基座上；

一第一光学测量件，配置于该第一固定式支架上；

一第二固定式支架，配置于该基座上；以及

一第二光学测量件，配置于该第二固定式支架上，且该第一光学测量件与该第二光学测量件相对，而该转动件更适于移动，以将该待测件移至该第一光学测量件与该第二光学测量件之间。

7.根据权利要求6所述的光学测量设备，其特征在于，该第一光学测量件及第二光学测量件分别包括一激光测量头。

8.根据权利要求6所述的光学测量设备，其特征在于，该转动件包括：

一转盘，用以放置该待测件；以及

一转轴，一端枢接于该基座，另一端连接该转盘，且该转轴适于移动及转动。

9.根据权利要求6所述的光学测量设备，其特征在于，更包括：

一载盘，适于配置于该转动件上，该载盘设有多个容置孔，每一容置孔用以容置该待测件。

10.根据权利要求9所述的光学测量设备，其特征在于，该载盘为一陶瓷盘。

11.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该转动件更适于移动，以调整该转动件的一承载面与该基座之间的距离。

12.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该转动件包括：

一转盘，用以放置该待测件；以及

一转轴，一端枢接于该基座，另一端连接该转盘。

13.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，更包括：

一载盘，适于配置于该转动件上，而该载盘用以承载多个该待测件。

14.根据权利要求13所述的光学测量设备，其特征在于，该载盘为一陶瓷盘。

15.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，更包括一自动取放装置，该自动取放装置包括：

一置物架，配置于该转动件旁，该置物架具有沿一预定方向排列的多个置物层，每一置物层用于放置该待测件，该置物架适于沿该预定方向来回移动，以使这些置物层其中之一移动至位于该转动件旁的一预设位置；

一第一机械手臂，配置于该置物架旁，该第一机械手臂适于将位于该预设位置的该置物层上的该待测件移动至该转动件；以及

一第二机械手臂，配置于该置物架旁，该第二机械手臂适于将位于该转动件上的该待测件移动至位于该预设位置的该置物层上。

16.根据权利要求1所述的光学测量设备，其特征在于，该控制模块包括：

一操作板；

一控制电路，电性连接至该操作板、该转动件及该光学测量模块，该控制电路适于控制该转动件及该光学测量模块运作，以测量并记录该待测件的该厚度；以及

一显示装置，电性连接至该控制电路，以显示该待测件的该厚度。