[发明专利]64B/66B编码测试装置无效

专利信息
申请号: 201010114466.6 申请日: 2010-02-26
公开(公告)号: CN101826936A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 伊藤智宏;粟野贵之 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L12/26;H03M13/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 64 66 编码 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种64B/66B编码测试装置,其特征在于,具有:

帧发生器(21),产生比以太网的物理编码子层靠上位的帧数据;

64B/66B编码处理器(22),产生对上述帧数据进行上述物理编码子层的64B/66B编码处理而被编码的64B/66B编码;

序列模式发生器(23),产生任意的66B序列模式;

数据选择器(24),选择通过上述64B/66B编码处理器被编码的66B数据与从上述序列模式发生器输出的66B序列模式中的任意一个,并传给上述被测试对象装置。

2.如权利要求1所述的64B/66B编码测试装置,具有:帧发生器(21),产生比以太网的物理编码子层靠上位的帧数据;64B/66B编码处理器(22),产生对上述帧数据进行上述物理编码子层的64B/66B编码处理而被编码的66B数据,并将通过上述64B/66B编码处理器被编码的66B数据传给被测试对象装置从而进行该被测试对象装置的测试,其特征在于,具有:

序列模式发生器(23),产生预先写入的任意66B序列模式;

数据选择器(24),选择通过上述64B/66B编码处理器被编码的66B数据与从上述序列模式发生器输出的66B序列模式中的任意一个,并传给被测试对象装置;

控制器(50),在上述序列模式发生器中写入所希望的66B序列模式的同时,控制上述数据选择器而将66B序列模式传给上述被测试对象装置。

3.如权利要求1或2所述的64B/66B编码测试装置,其特征在于,

具有用于存储从外部输入的66B数据中满足预定条件的66B数据的66B数据存储器(30),

上述控制器可根据存储在上述66B数据存储器中的66B数据而产生上述66B序列模式并写入到上述序列模式发生器中。

4.如权利要求1或2所述的64B/66B编码测试装置,其特征在于,

上述66B数据存储部存储从外部输入的66B数据中通过预先设定的通过条件的过滤电路(32)的66B数据。

5.如权利要求3或4所述的64B/66B编码测试装置,其特征在于,

具有进行从外部输入的66B数据的解码处理与误差检测的64B/66B解码处理器(27),

上述66B数据存储部在从外部输入的66B数据中根据利用上述64B/66B解码处理器的误差检测结果存储66B数据。

6.如权利要求3至5中的任意一项所述的64B/66B编码测试装置,其特征在于,

上述66B数据存储部通过触发电路(33)判断从外部输入的66B数据是否满足预先设定的存储终止条件,并根据该判断结果使上述66B数据的存储停止。

7.如权利要求1所述的64B/66B编码测试方法,其特征在于,包括:

帧发生步骤,产生比以太网的物理编码子层靠上位的帧数据;

64B/66B编码处理步骤,产生对上述帧数据进行上述物理编码子层的64B/66B编码处理而被编码的66B编码;

序列模式存储步骤,存储任意的66B序列模式;

序列模式发生步骤,产生上述存储的66B序列模式;

数据选择步骤,选择在上述64B/66B编码处理步骤中被编码的66B数据与在上述序列模式发生步骤中产生的66B序列模式中的任意一个,并传给上述被测试对象装置。

8.如权利要求7所述的64B/66B编码测试方法,包括:帧发生步骤,产生比以太网的物理编码子层靠上位的帧数据;64B/66B编码处理步骤,产生对上述帧数据进行上述物理编码子层的64B/66B编码处理而被编码的66B数据,并将通过上述64B/66B编码处理步骤被编码的66B数据传给被测试对象装置从而进行该被测试对象装置的测试,其特征在于,具有:

序列模式存储步骤,存储任意的66B序列模式;

序列模式发生步骤,产生上述存储的66B序列模式;

数据选择步骤,选择在上述64B/66B编码处理步骤中被编码的66B数据与在上述序列模式发生步骤中发生的66B序列模式中的任意一个,并传给上述被测试对象装置。

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