[发明专利]基于EXCEL的半导体器件测试参数six sigma 管控方法无效
申请号: | 201010114489.7 | 申请日: | 2010-02-26 |
公开(公告)号: | CN101901420A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | 刘玉智 | 申请(专利权)人: | 福建福顺半导体制造有限公司 |
主分类号: | G06Q10/00 | 分类号: | G06Q10/00 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 excel 半导体器件 测试 参数 six sigma 方法 | ||
1.一种基于EXCEL的半导体器件测试参数six sigma 管控方法,其特征在于,按如下步骤进行:
(1)用EXCEL打开需要按six sigma 进行管控的测试数据文档;
(2)判断产生所述测试数据的测试机台类型,以选择相适应的数据格式处理方法,利用EXCEL VBA编程,直接在EXCEL文档中对所述测试数据进行整理;
(3)利用EXCEL VBA编程,直接在EXCEL文档中计算均值、标准差、CP和CPK;
(4)利用EXCEL VBA编程,直接在EXCEL文档中计算管控的上下限UCL、LCL。
2.根据权利要求1所述的基于EXCEL的半导体器件测试参数six sigma管控方法,其特征在于,所述测试机台类型包括JUNO测试机台和AMIDA测试机台。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建福顺半导体制造有限公司,未经福建福顺半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010114489.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法;其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10-00 行政;管理
G06Q10-02 .预定,例如用于门票、服务或事件的
G06Q10-04 .预测或优化,例如线性规划、“旅行商问题”或“下料问题”
G06Q10-06 .资源、工作流、人员或项目管理,例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源;企业规划;组织模型
G06Q10-08 .物流,例如仓储、装货、配送或运输;存货或库存管理,例如订货、采购或平衡订单
G06Q10-10 .办公自动化,例如电子邮件或群件的计算机辅助管理