[发明专利]新型集成电路测试分选方法及装置有效

专利信息
申请号: 201010119367.7 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN101758031A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 王晓军;班华;陈滔;刘义;张华 申请(专利权)人: 王晓军;班华;陈滔;刘义;张华
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 新型 集成电路 测试 分选 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种新型集成电路测试分选方法,其特征在于,包括以下步骤:

a、待测IC芯片(11)进入测试位,并定位于测试位,下压测试头(35)在下压气缸(2)的驱 动下下行,并在测试位下导轨(21)的支撑下将IC芯片夹紧在测试位上,下压测试头(35)的接 触簧片与IC芯片11接触,同时下压测试头(35)的模拟锁紧螺栓穿过IC安装孔;

b、夹持气缸(1)进行闭合动作,通过左侧夹手臂(22)和右侧夹手臂(36),分别驱动其上 的左侧可调推手(24)和左边活动支承块(39)夹持左侧IC管脚,右侧可调推手(38)和右边活动 支承块(25)夹持右侧IC管脚,并保持,测试机开始测试信号;

c、测试完成后,夹持气缸组件(1)进行张开动作,通过左侧夹手臂(22)和右侧夹手臂 (36),分别驱动其上的左侧可调推手(24)和左边活动支承块(39)及右侧可调推手(38)和右边 活动支承块(25)松开IC两边管脚;

d、下压气缸(2)带动下压测试头(35)上行,定位气缸(33)伸出驱动定位转臂(31)抬起, 其上的定位件(32)上行打开、放行,IC在重力作用下滑出测试位,根据测试结果进行下一步 分类或测试。

2.一种新型集成电路测试分选装置,其特征在于,它包括夹持气缸组件(1)、下压测试 气缸组件(2)、测试位轨道组件(3)、左侧夹手臂组件(4)、测试位支承板(5)、金手指安装支 架组件(6)、测试位定位组件(7)、下压测试头组件(8)、右侧夹手臂组件(9)以及气缸固定座 组件(10);所述夹持气缸组件(1)包括夹手缸(42)、限流阀(43)、接头(44);所述下压测试气 缸组件(2)包括气缸(45)、限流阀(46)、接头(47);所述测试位轨道组件(3)包括测试位上导 轨(20)、测试位下导轨(21),上下导轨组成一起,安装固定在测试位支承板(5)上;所述左侧 夹手臂组件(4)和右侧夹手臂组件(9)安装在夹持气缸组件(1)上,所述测试位定位组件(7)包 括定位调整座(30)、定位转臂(31)、定位件(32)、定位气缸(33);气缸固定座组件(10)由气 缸固定座立板(40)与气缸安装板(41)组成。

3.根据权利要求2所述的新型集成电路测试分选装置,其特征在于,所述的左侧夹手臂 组件(4)包括左侧夹手臂(22)、左侧连接导杆(23)、左侧可调推手(24)、右边活动支承块(25), 左侧可调推手(24)安装在左侧夹手臂(22)上,右边活动支承块(25)通过两个左侧连接导杆(23) 安装在左侧夹手臂(22)上。

4.根据权利要求2所述的新型集成电路测试分选装置,其特征在于,所述的右侧夹手臂 组件(9)包括右侧夹手臂(36)、右侧连接导杆(37)、右侧可调推手(38)、左边活动支承块(39), 右侧可调推手(38)安装在右侧夹手臂(36)上,左边活动支承块(39)通过两个右侧连接导杆(37) 安装在右侧夹手臂(36)上。

5.根据权利要求2所述的新型集成电路测试分选装置,其特征在于,所述的下压测试头 组件(8)包括可调下压测试头安装座板(34)、下压测试头(35),所述下压测试头(35)为一带有 弹性接触簧片及两个模拟锁紧螺栓的测试头,其安装在可调安装座板(34)上。

6.根据权利要求2所述的新型集成电路测试分选装置,其特征在于,所述的金手指安装 支架组件(6)包括左侧金手指(26)、右侧金手指(27)、金手指安装支架(28)、两个金手指安装 夹板(29),左侧金手指(26)和右侧金手指(27)卡在金手指安装支架(28)上并由金手指安装夹 板(29)锁定。

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