[发明专利]通过评估回波曲线测量料位

权利要求书

1.一种用于测量回波的方法，所述方法包括下述步骤：

产生高频传输脉冲并且从天线辐射所述高频传输脉冲；

接收来自所发射的传输脉冲的反射的回波；

产生回波曲线以及参考回波；

通过评估任务将所述回波曲线中的回波的近似位置提供给测量任务；

通过所述测量任务根据所述近似位置来确定所述回波的精确位置，以 及确定所述回波到所述参考回波的距离，

其中，并行地执行所述评估任务和所述测量任务。

2.根据权利要求1所述的方法，其中对所述回波曲线的一部分进行 分析。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，其中，使用选自以下 方法组的至少一种方法用于确定回波曲线，所述方法组包括：

传播时间法；

脉冲传播时间法；

基于频率的方法；以及

FMCW法。

4.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，还包括：

通过在所述IF水平成对地采样所述回波曲线并且/或者通过在所述 IF水平成对地偏移采样所述回波曲线来存储所述回波曲线。

5.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，其中，在每种情况下， 在触发时间点开始所述评估任务和所述测量任务；

其中，触发所述评估任务和所述测量任务的时间点包括除50％之外 的脉冲采样率。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述触发时间点确定所述评 估任务和所述测量任务对共享执行装置的分配。

7.根据权利要求2所述的方法，其中，所述评估任务适合于选择回 波曲线的部分；并且

其中所述测量任务适合于分析所述回波曲线的所选择的部分。

8.根据权利要求2所述的方法，还包括：

形成用于选择所述回波曲线的所述部分的窗区域；以及

分析所述窗区域内的所述回波曲线。

9.根据权利要求7或权利要求8所述的方法，其中，所选择的部分 的分析包括选自以下回波分析方法组的至少一种回波分析方法的应用，所 述回波分析方法组包括：

斜率测量；

内插；

确定在所述部分的开始处的幅度提高；

确定所述回波的最大幅度；

在所述斜率下测量；

与参考信号进行比较；以及

相关。

10.根据权利要求5所述的方法，其中，所述评估任务和所述测量任 务包括不同的测量速率。

11.根据权利要求2所述的方法，其中，在所述IF水平的比较包括 从IF回波曲线减去IF干扰曲线。

12.一种用于测量回波的测量装置(1700)，包括：

回波曲线产生装置(110)；

分析装置(1003，1000)；

其中，所述回波曲线产生装置(110)包括：

发送生成器(111)，用于产生高频传输脉冲；

天线(113)，用于辐射所述高频传输脉冲，以及用于接收来自所 发射的传输脉冲的反射的回波；并且

其中，所述回波曲线产生装置(110)被配备用于产生回波曲线和参 考回波；

其中，所述分析装置(1003，1000)包括：

评估装置(1000)，用于执行评估任务以向测量装置(1003)提 供所述回波曲线中的回波的近似位置；

测量装置(1003)，用于执行测量任务以根据所述近似位置确定 所述回波的精确位置，以及确定所述回波到所述参考回波的距离；

其中，所述评估任务和所述测量任务被并行地执行。