[发明专利]通过评估回波曲线测量料位

说明书

本发明涉及测量技术的技术领域。特别地，本发明涉及测量料位，涉及用于料位测量的方法，涉及程序单元，涉及测量装置和用于碰撞监测的测量装置的使用。 

相关申请的引用 

本申请要求保护2009年3月2日提交的欧洲专利申请EP 09154141.7的提交日的权益，该欧洲专利申请的公开通过引用结合于此；还要求保护2009年3月2日提交的美国临时专利申请61/156,688的提交日的权益，该美国临时专利申请的公开通过引用结合于此。 

技术领域0003] 本发明涉及测量技术的技术领域。特别地，本发明涉及测量料位，涉及用于料位测量的方法，涉及程序单元，涉及测量装置和用于碰撞监测的测量装置的使用。 

背景技术

在通过传播时间方法进行的料位测量中，周期地生成回波图(echoprofile)、图标函数或回波曲线以便据此在也称为“有用回波识别”的评估算法中识别从馈给料(feed material)表面发出的“正确”回波，从而在也可称为“回波测量”的另一算法中随后测量该回波的传播时间。用于这样的料位测量的传播时间传感器可完全地和互相交替地处理回波评估和回波测量的任务，作为其结果可产生严格的串行序列。评估回波可涉及通过整个测量跨度的回波图来确定来自馈给料表面的反射，且测量可涉及确定填充料反射的回波图的距离值和/或料位值。 

从DE 102006006572A1可知通过采样中频(IF)信号的相对较少的值，在每个情况下根据仅两个采样点来计算IF信号的包络还有相位角。 

DE 19925216C1可公开对不需要的信号的参考测量并从所采样的测量信号到差动信号中减去由干扰频率导致的频谱的分量。 

而且，在DE 4407369中，可描述根据载波频率的由相位角确定的部分确定校正值。 

US 5,457,990可公开一种用于通过分析窗来记录罐中的液位的方法。 

此外，US 5,207,101可描述向换能器周期性地提供能量以便发送由要被测量的材料的表面反射的能量脉冲。 

在EP 1562051A2中描述了脉冲测量处理，其在第一阶段生成回波图，且中断第一阶段以便对能量存储装置充电至少一次。 

DE 4327333A1可描述用于根据雷达原理测量容器中液体的料位的方法，其中通过对测得的第一不需要的信号的强度来校正在测量频谱中出现的与液体的料位高度无关的不需要的信号。 

EP 1225455A2可描述减去不需要的无线电频率干扰。 

而且，US 6,972,712B1可描述在预安装校准期间在ROM中存储脉冲形状。 

DE 3107444可描述用于高分辨率脉冲雷达的方法。 

发明内容

需要有一种用于料位测量的更有效的方法。 

根据本发明的示例性实施例，提供了一种用于料位测量的方法、程序单元、测量装置和测量装置用于碰撞监测的用法。 

根据本发明的又一示例实施例，用于料位测量的方法可包括生成回波曲线。而且，在可通过至少一个分析方法分析所生成的回波曲线的方法中，该分析方法可从分析方法组中选择，该组包括在中频(intermediatefrequency，IF)水平通过至少两个并行任务来分析回波曲线和通过与干扰回波曲线(即不表示料位的错误回波曲线)比较来分析回波曲线。 

例如，干扰回波曲线可以是标准(即参考)回波曲线。换句话说，干扰回波曲线可以是在排除馈给料容器中的馈给料的情况下确定和存储的回波曲线。因此，干扰回波曲线可包含除馈给料的干扰影响之外的所有干扰。标准回波曲线或干扰回波曲线一般可以是可与所记录的回波曲线进行比较的所存储的回波曲线。所存储的回波曲线可用作参考。 

在该设置中，一个任务可以是在有限时段或时间间隔内要由装置或设备、特别地由控制装置执行的任务。该分析可在时域或频域进行，换句话说在时间轴或频率轴上和/或沿着时间轴或频率轴。而且，在IF(中频) 水平分析可涉及使回波曲线乘以采样信号。 

根据本发明的又一示例实施例，可提供程序单元，该程序单元可包括软件代码，该软件代码当在处理器上执行时涉及生成回波曲线和分析回波曲线。对于分析回波曲线，可使用从分析方法组选择的分析方法或分析处理，该分析方法组包括在IF水平通过至少两个并行任务来分析和通过比较标准回波曲线来分析回波曲线。