[发明专利]真空处理装置有效
申请号: | 201010126197.5 | 申请日: | 2005-03-17 |
公开(公告)号: | CN101812675A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 石桥启次;田中雅彦;熊谷晃;池本学;汤田克久 | 申请(专利权)人: | 佳能安内华股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455;C23C16/452;H01L21/205 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 何腾云 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 真空 处理 装置 | ||
本申请是申请号为2005100548229、发明名称为《真空处理装置》、 申请日为2005年3月17日的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种真空处理装置,在真空处理装置的真空容器内生 成等离子体,并产生电中性的激发活性种(在本发明中以“游离基” 表示),对配置在该真空容器内的基板进行处理,例如,进行在基板上 形成薄膜的处理、或对形成于基板上的薄膜进行表面处理等。
背景技术
真空处理装置具有各种各样的用途,所述的真空处理装置,通过 在真空处理装置的真空容器内形成等离子体而产生游离基,对配置在 该真空容器内的基板进行处理,例如,进行在基板上形成薄膜的处理, 或者用于改善形成于基板上的薄膜的膜质的表面处理。
例如,在于低温下利用多晶硅型TFT的液晶显示器的制作中,作 为在低温下形成适当的硅氧化膜作为栅绝缘膜(gate绝缘膜)的真空 处理装置,目前采用等离子体CVD。
例如,在作为现有技术专利文献的特开2000-345349号中,提出 了在真空处理装置的真空容器内生成等离子体并产生游离基、对配置 在该真空容器内的基板进行处理的CVD装置(在本说明书中,为了 将根据该现有技术专利文献的CVD装置与通常的等离子体CVD装置 相区别,将游离基簇射CVD装置称为“RS-CVD装置”)。
在特开2000-345349号中,提出了这样的方案,该RS-CVD装置 在真空容器内生成等离子体并产生游离基,利用该游离基和成膜气体 在基板上进行成膜处理。
即,在特开2000-345349号中提出的RS-CVD装置的使用方法如 下。
首先,利用具有游离基通过的多个贯通孔的隔壁板,将真空反应 室内分离成等离子体生成空间和成膜处理空间(该成膜处理空间相当 于基板处理空间),将气体导入等离子体生成空间并利用等离子体产生 游离基,该游离基通过位于前述隔壁板上的多个贯通孔导入到成膜处 理空间中。然后,在成膜处理空间中,使直接导入其中的成膜气体和 如前面所述、经由隔壁板的多个贯通孔导入的游离基反应,在配置于 成膜处理空间中的基板上(例如,370mm×470mm的玻璃基板上)进 行成膜处理。
另外,在本说明书中,所谓向基板处理空间、例如成膜处理空间 中“直接导入的成膜气体”,是指不与等离子体及游离基接触、从真空 反应室外部直接导入到基板处理空间、例如成膜处理空间的成膜气体。
图1表示如特开2000-345349号中提出的那样,在RS-CVD装置 作为向基板上进行薄膜形成的装置使用的情况下、过去采用的隔壁板 的通常结构。
隔壁板14在内部配有多个用于扩散成膜气体的成膜气体扩散空 间24。相互连通的各个成膜气体扩散空间24,在图1中,与位于上侧 的等离子体生成空间15隔离开,并且,在图1中,经由成膜气体扩散 空26与位于下侧的成膜处理空间16连通。经由与成膜气体导入管相 连的成膜气体导入口28b导入到多个成膜气体扩散空间24内的成膜气 体在其中扩散,经由成膜气体扩散孔26均匀地供给到成膜处理空间 16的整个区域中。
进而,隔壁板14配有多个贯通孔25,所述贯通孔25在没有配备 成膜气体扩散空间24的部位从一个侧面侧向另一侧面侧贯通(在图1 中沿上下方向贯通)。如图2放大表示的那样,该贯通孔25由游离基 通过孔25a和游离基逃逸孔25b构成。图3是表示从图1的X-X方向 观察时看到的隔壁板14的内部的局部平面图。
根据这种结构的隔壁板14,通过将真空反应室内分离成等离子体 生成空间15和成膜处理空间16,在等离子体生成空间15中产生的游 离基仅经由贯通孔25被导入到成膜处理空间16中,另一方面,从真 空反应室的外部导入到成膜气体扩散空间24内的成膜气体不与等离 子体及游离基接触,经由成膜气体扩散孔26直接导入到成膜处理空间 16中。
【专利文献1】特开2000-345349号公报
发明的内容
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