[发明专利]晶片固持系统、系统及配合晶片载具使用的晶片有效
申请号: | 201010128092.3 | 申请日: | 2010-03-05 |
公开(公告)号: | CN101826482A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 李柏毅;王宗鼎 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L23/544 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 系统 配合 使用 | ||
1.一种晶片固持系统,其特征在于,包含:
一晶片载具,用以固持一晶片于指定位准,该晶片载具具有一准位结构以固持该晶片于指定位准,其中该准位结构包含多个准位柱;以及
一顶环,位于该晶片与该晶片载具的顶端面之上,该顶环用以固持该晶片与该晶片载具,使该晶片与该晶片载具成为单一组件。
2.根据权利要求1所述的晶片固持系统,其特征在于,该晶片具有多个孔洞于该晶片的表面,其中每一该些准位柱对应至少有一个孔洞。
3.根据权利要求2所述的晶片固持系统,其特征在于,该顶环具有多个孔洞于该顶环的表面,其中每一该些准位柱对应至少有一个孔洞。
4.根据权利要求1所述的晶片固持系统,其特征在于,该准位结构包含:
多个真空洞,该些真空洞为穿透该晶片载具所形成的孔洞。
5.根据权利要求1所述的晶片固持系统,其特征在于,该准位结构包含:
一凹痕,位于该晶片载体的顶端面,该凹痕用以固持该晶片,其中该凹痕的尺寸大小大于或等于该晶片的尺寸大小。
6.一种晶片固持系统,其特征在于,包含:
一基座单元,由一具有与置放在该基座单元顶端面上的晶片的热膨胀系数相同的第一材料所形成,该基座单元具有一准位结构以维持该晶片的指定位准,其中该准位结构包含多个准位柱,该准位柱形成于该基座单元外带周围的一环状环之内,且每一该些准位柱均由该基座单元的顶端面垂直延伸;以及
一环状物,该环状物具有一圆柱形凸缘,至少部分该圆柱型凸缘向下延伸至该基座单元以符合该晶片与该基座单元的尺寸,且具有一唇形凸缘环绕着该环状物的顶端面而形成,以防止该基座单元延伸至较指定位准更加深入该环状物,该环状物由一具有与该晶片的热膨胀系数相同的第二材料所形成。
7.根据权利要求6所述的晶片固持系统,其特征在于,该环状物具有多个环形孔洞形成于该环状物的顶端面,且该些环形孔洞的数目至少与该准位柱的数目相同。
8.一种配合晶片载具使用的晶片,其特征在于,该晶片载具具有一准位结构以固持该晶片于指定位准,该晶片包含:
一圆形盘,该圆形盘具有多个形成于该晶片外圆周部的环状环之内的准位开口,其中当该晶片置放在该晶片载具上以固持该晶片于一位准时,多个准位柱的至少其中一部分穿过该些准位开口,其中每一该些准位开口均略大于该准位柱,且该些准位开口的数目至少与该些准位柱的数目相同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010128092.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于半导体芯片的应力阻挡结构
- 下一篇:电磁继电器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造