[发明专利]连续圆柱体测量装置无效
申请号: | 201010148803.3 | 申请日: | 2010-04-17 |
公开(公告)号: | CN101915550A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 侯明 | 申请(专利权)人: | 侯明 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08;G01B11/24;G01B11/02 |
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地址: | 200120 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连续 圆柱体 测量 装置 | ||
1.一种连续圆柱体测量装置,用于连续成型的圆柱体产品物理特性的评价,其特征在于,其包括:旋转平台,光源,传感器组件,传动机构。
2.如权利要求1所述连续圆柱体测量装置,其特征在于:所述旋转平台的旋转中心为贯通的空腔,所述空腔直径略大于所述连续圆柱体的直径,所述连续圆柱体轴向穿过所述空腔输送,所述旋转平台能够沿所述连续圆柱体圆周方向并垂直于所述连续圆柱体轴心线旋转一定角度。
3.如权利要求1所述连续圆柱体测量装置,其特征在于:所述传感器组件至少设置一组,设置于所述旋转平台上,所述传感器组件跟随所述旋转平台一起转动。
4.如权利要求1所述连续圆柱体测量装置,其特征在于:所述光源包括透射光源和反射光源,两者中至少选择一者设置于所述旋转平台上,并跟随所述旋转平台一起转动。
5.如权利要求1所述连续圆柱体测量装置,其特征在于,所述传动机构传递动力驱动所述旋转平台旋转一定角度。
6.如权利要求4所述透射光源,其特征在于,所述透射光源和所述传感器组件分别设置于所述连续圆柱体的两侧,所述透射光源发出的光束将所述连续圆柱体的轮廓和内部结构投影到所述传感器组件上进行测量。
7.如权利要求4所述反射光源,其特征在于,所述反射光源和所述传感器组件设置于所述连续圆柱体同一侧,所述反射光源发出的光束照射所述连续圆柱体表面,然后反射到所述传感器组件,测量连续圆柱体表面的反射物理特征。
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