[发明专利]背光源的制造方法和制造设备

权利要求书

1.一种背光源的制造方法，是在一可将发光二极管自动化地组装于电路板的制造设备中执行以下步骤：

提供多颗发光二极管；

将多颗发光二极管进行检测；

提供一承载器，将通过检测并且合格的多颗发光二极管填入该承载器内；

提供一电路板，将该承载器对准电路板预设发光二极管的位置；

施加一外力于该发光二极管，使其贴合在该电路板上。

2.如权利要求1所述的背光源的制造方法，其特征在于：提供一上料机构，用以将散装的多颗发光二极管按照预定方向排列后待测。

3.如权利要求1所述的背光源的制造方法，其特征在于：发光二极管的检测包括尺寸、型号、极性或点亮至少其中之一。

4.如权利要求3所述的背光源的制造方法，其特征在于：该发光二极管的尺寸或型号检测方式，是应用电荷耦合装置摄取待检测的发光二极管的影像，并与预设影像做比较，进而得出检测的发光二极管的尺寸或者型号是否符合要求。

5.如权利要求3所述的背光源的制造方法，其特征在于：该发光二极管的尺寸或型号另一检测方式，是从不同方向将待检测的发光二极管的各表面卡位，计算待检测的发光二极管相对表面的距离，将此距离与预设数值做比较，进而得出检测的发光二极管的尺寸或者型号是否符合要求。

6.如权利要求3所述的背光源的制造方法，其特征在于：该发光二极管的极性检测方式，是将极性不符合预定方位的发光二极管调整为极性符合预定方位。

7.如权利要求3所述的背光源的制造方法，其特征在于：该发光二极管的点亮检测方式，是对极性检测合格的发光二极管进行点亮检测，淘汰不能通过点亮检测的发光二极管。

8.一种适用于权利要求1所述的背光源的制造方法的制造设备，其包括上料机构、检测机构及贴合机构以将发光二极管自动化地组装于电路板，该上料机构将散装的电子元件按照预定方向排列后待测；检测机构对电子元件进行检测；贴合机构包括一承载器与一压件器；该承载器收容检测合格的电子元件；承载器与一待组装的电路板预设电子元件的位置对应；该压件器将该承载器内的电子元件与电路板完成组装。

9.如权利要求8所述的背光源的制造设备，其特征在于：该制造设备更包括一运输机构以运输该电路板完成与电子元件的组装。

10.如权利要求8或9或所述的背光源的制造设备，其特征在于：该上料机构为振动盘，该振动盘包括料斗、螺旋轨道及出料口，该螺旋轨道围绕该料斗的内壁，该出料口位于该螺旋轨道的上部引出端，该振动盘将电子元件沿着螺旋轨道由低到高移动，并自动排列定向，直至上部的出料口，使电子元件按照预定方向排列传送给检测机构。

11.如权利要求8或9所述的背光源的制造设备，其特征在于：电子元件为发光二极管，该检测机构包括吸晶棒、尺寸检测台、第一下料台、第一次点亮检测台、第二次点亮检测台及第二下料台，吸晶棒吸取由上料机构提供的发光二极管，按照上述检测台的顺序，进行检测。

12.如权利要求11所述的背光源的制造设备，其特征在于：吸晶棒吸取发光二极管进行点亮测试第一次点亮检测，如能够点亮，则由吸晶棒吸取发光二极管传送给贴合机构，如不能够点亮，则该第一次点亮检测台水平自转，改变了极性的发光二极管在吸晶棒吸取下进入第二次点亮检测台进行点亮测试，在第二次点亮检测台进行点亮测试时如能够点亮，则由吸晶棒吸取发光二极管传送给贴合机构，如果在第二次点亮检测台进行点亮测试时仍然不能点亮，则由吸晶棒吸取发光二极管传送给该第二下料台以回收。

13.如权利要求12所述的背光源的制造设备，其特征在于：第一次点亮检测台包括对发光二极管的极性进行检测，其可带动其上的发光二极管进行转动，进而改变发光二极管的极性。

14.如权利要求12所述的背光源的制造设备，其特征在于：吸晶棒与一真空管相连接，该真空管为该吸晶棒提供吸附力。

15.如权利要求8或9所述的背光源的制造设备，其特征在于：承载器包括与电子元件尺寸对应的导槽，该导槽与该电路板上预设的电子元件的位置对应，该导槽收容该电子元件。