[发明专利]在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料及其制备方法无效
申请号: | 201010150564.5 | 申请日: | 2010-04-19 |
公开(公告)号: | CN102219552A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 黄雁君;郁可;朱自强 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | C04B41/50 | 分类号: | C04B41/50 |
代理公司: | 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 | 代理人: | 董红曼 |
地址: | 200062 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 复合 in sub 纳米 结构 半导体材料 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光电子材料、半导体材料与器件技术领域,具体地说,本发明涉及在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料及其制备方法。
背景技术
In2O3是一种宽带隙透明半导体材料,其直接带隙在3.55~3.75eV范围内,具有良好的导电性和较高的透光率。由于其独特的电学、化学和光学性质,In2O3在化学、生物传感、太阳能电池、光催化、执行器、光电子和平板显示等领域具有广泛的应用空间。
近来,人们利用各种方法(溶液法,分子束外延,脉冲激光沉积,金属有机物化学气相沉积等)制备出了各种不同的In2O3纳米结构,例如纳米线,纳米带,纳米方块,八面体,纳米箭等,并对这些纳米结构的光电特性进行了研究。但是能应用于大规模生产的方法很少,且反应条件苛刻,生产成本高昂。本发明所提供的In2O3箭状纳米结构及其制备方法,克服现有技术的缺陷,实现了在硅片上制备大规模的In2O3纳米结构,且方法简单,对设备及制备条件要求不高,适合大规模生产。In2O3箭状纳米结构具有纳米级的尖端,底部是棒状结构,其独特的构造,使得它可用于高效的场发射材料,且可用于制作各种精密仪器的探头;也可结合目前成熟的半导体硅集成电路工艺,适合于集成纳米光电子器件的发展。
发明内容
本发明的目的之一在于提供一种在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,包括硅片衬底,和生长在所述衬底表面的In2O3晶体。其中,所述In2O3晶体为箭状纳米结构。
本发明提供的在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料,这种纳米结构具有很明显的周期性,所述的In2O3晶体长度为5~15μm,顶端为多面体结构,底部为棒状结构,棒状结构具有四个面,并从顶端到底端逐渐变细,10~30个箭状纳米结构底部聚在一起形成一个花束状结构。本发明提供的所述In2O3箭状纳米结构,在国际上尚属首次报道。
本发明的第二个目的在于提供在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的制备方法,以解决现有In2O3纳米材料制备方法条件苛刻,成本高的问题,提供一种低成本,高重复性,适用于大规模工业生产的新方法。
制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的方法,包括如下步骤:
a、将In颗粒作为源放到石英舟里,把清洗后的硅片盖在石英舟的上面,硅片与源的垂直距离为4~10mm;
b、把石英舟放到预先加热至700~1000℃的水平放置的管式生长炉的中部;
c、通入惰性气体Ar作为载气,在大气压强下反应,得到产物。
其中,所述步骤a中所述In颗粒的纯度为99.999%。
其中,所述步骤c中所述通入的惰性气体Ar的流量为0.2~0.6L/min;所述在大气压强下的反应时间为120~360min。
其中,所述水平放置的管式生长炉是由两根半径不同的管组成的,大的氧化铝管长度为70~100cm,直径为6~10cm;小的石英管长度为50~80cm,直径为3~5cm。反应时,把小口径的管子插入大口径管子中,反应在小管中进行,并且载气是直接通入到小口径管子中。
制备在硅片上复合In2O3箭状纳米结构的半导体材料的方法,具体步骤包括如下:
a、把硅片清洗干净,然后切成几小片;
b、将水平放置的管式生长炉以5℃/min的速率加热到700~1000℃;
c、将纯度99.999%的In颗粒作为源放到一个石英舟里,把一小片干净的硅片盖在石英舟的上面,作为衬底来收集反应生成物,硅片与源的垂直距离为4~10mm;
d、把石英舟放到预先加热好的水平管式炉的中部;
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