[发明专利]晶片封装结构及封装基板有效

专利信息
申请号: 201010151056.9 申请日: 2010-04-19
公开(公告)号: CN101819957A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 张文远 申请(专利权)人: 威盛电子股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/12
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;王璐
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 晶片 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种晶片封装结构,其特征在于,适于放置在一承载器 上,该晶片封装结构包括:

一封装基板,包括:

一叠合层,具有彼此相对的一第一表面与一第二表面;

一图案化导电层,配置于该叠合层的该第一表面上, 且具有至少一内部接垫;

一防焊层,配置于该叠合层的该第一表面上,且具有 至少一开口,其中该开口暴露出该内部接垫;

至少一外部接垫,配置于该防焊层上且位于该开口内, 其中该外部接垫与该开口所暴露出的该内部接垫连接,并 且该外部接垫适于与该晶片封装结构上的焊球连接而使该 晶片封装结构与一电子组件连接;以及

一垫高图案,配置于该防焊层上,其中该垫高图案相 对于该叠合层的该第一表面的高度大于该外部接垫相对于 该叠合层的该第一表面的高度,且当该封装基板经由该垫 高图案放置在该承载器上时,该外部接垫不接触该承载器, 当该封装基板经由该焊球连接该电子组件时,该垫高图案 不接触该电子组件;以及

一晶片,配置于该封装基板上,位于该叠合层的该第二表 面,且电性连接至该封装基板。

2.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 外部接垫与该承载器之间存有一间隔距离。

3.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案分布于该防焊层的多个角落。

4.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案的材质包括防焊材料。

5.一种晶片封装结构,其特征在于,适于连接一电子组件, 该晶片封装结构包括:

一封装基板,包括:

一叠合层,具有彼此相对的一第一表面与一第二表面;

一图案化导电层,配置于该叠合层的该第一表面上, 且具有至少一内部接垫;

一防焊层,配置于该叠合层的该第一表面上,且具有 至少一开口,其中该开口暴露出该内部接垫;

至少一外部接垫,配置于该防焊层上且位于该开口内, 其中该外部接垫与该开口所暴露出的该内部接垫连接;以 及

一垫高图案,配置于该防焊层上,其中该垫高图案相 对于该叠合层的该第一表面的高度大于该外部接垫相对于 该叠合层的该第一表面的高度;

一晶片,配置于该封装基板上,位于该叠合层的该第二表 面,且电性连接至该封装基板;以及

至少一焊球,连接该外部接垫,且当该封装基板经由该焊 球连接该电子组件时,该垫高图案不接触该电子组件。

6.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,当 该焊球连接至该电子组件时,该垫高图案与该电子组件之间存 有一间隔距离。

7.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案相对于该叠合层的该第一表面的高度小于该焊球相对 于该叠合层的该第一表面的高度。

8.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案相对于该防焊层的高度小于该焊球相对于该防焊层的 高度的1/2。

9.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案分布于该防焊层的多个角落。

10.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 晶片封装结构,适于放置在一承载器上,且当该封装基板经由 该垫高图案放置在该承载器上时,该外部接垫不接触该承载器。

11.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 电子组件为一电路基板或一电子封装体。

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