[发明专利]晶片封装结构及封装基板有效
申请号: | 201010151056.9 | 申请日: | 2010-04-19 |
公开(公告)号: | CN101819957A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 张文远 | 申请(专利权)人: | 威盛电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/12 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;王璐 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 封装 结构 | ||
1.一种晶片封装结构,其特征在于,适于放置在一承载器 上,该晶片封装结构包括:
一封装基板,包括:
一叠合层,具有彼此相对的一第一表面与一第二表面;
一图案化导电层,配置于该叠合层的该第一表面上, 且具有至少一内部接垫;
一防焊层,配置于该叠合层的该第一表面上,且具有 至少一开口,其中该开口暴露出该内部接垫;
至少一外部接垫,配置于该防焊层上且位于该开口内, 其中该外部接垫与该开口所暴露出的该内部接垫连接,并 且该外部接垫适于与该晶片封装结构上的焊球连接而使该 晶片封装结构与一电子组件连接;以及
一垫高图案,配置于该防焊层上,其中该垫高图案相 对于该叠合层的该第一表面的高度大于该外部接垫相对于 该叠合层的该第一表面的高度,且当该封装基板经由该垫 高图案放置在该承载器上时,该外部接垫不接触该承载器, 当该封装基板经由该焊球连接该电子组件时,该垫高图案 不接触该电子组件;以及
一晶片,配置于该封装基板上,位于该叠合层的该第二表 面,且电性连接至该封装基板。
2.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 外部接垫与该承载器之间存有一间隔距离。
3.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案分布于该防焊层的多个角落。
4.根据权利要求1所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案的材质包括防焊材料。
5.一种晶片封装结构,其特征在于,适于连接一电子组件, 该晶片封装结构包括:
一封装基板,包括:
一叠合层,具有彼此相对的一第一表面与一第二表面;
一图案化导电层,配置于该叠合层的该第一表面上, 且具有至少一内部接垫;
一防焊层,配置于该叠合层的该第一表面上,且具有 至少一开口,其中该开口暴露出该内部接垫;
至少一外部接垫,配置于该防焊层上且位于该开口内, 其中该外部接垫与该开口所暴露出的该内部接垫连接;以 及
一垫高图案,配置于该防焊层上,其中该垫高图案相 对于该叠合层的该第一表面的高度大于该外部接垫相对于 该叠合层的该第一表面的高度;
一晶片,配置于该封装基板上,位于该叠合层的该第二表 面,且电性连接至该封装基板;以及
至少一焊球,连接该外部接垫,且当该封装基板经由该焊 球连接该电子组件时,该垫高图案不接触该电子组件。
6.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,当 该焊球连接至该电子组件时,该垫高图案与该电子组件之间存 有一间隔距离。
7.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案相对于该叠合层的该第一表面的高度小于该焊球相对 于该叠合层的该第一表面的高度。
8.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案相对于该防焊层的高度小于该焊球相对于该防焊层的 高度的1/2。
9.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 垫高图案分布于该防焊层的多个角落。
10.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 晶片封装结构,适于放置在一承载器上,且当该封装基板经由 该垫高图案放置在该承载器上时,该外部接垫不接触该承载器。
11.根据权利要求5所述的晶片封装结构,其特征在于,该 电子组件为一电路基板或一电子封装体。
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