[发明专利]像素缺陷校正装置无效

专利信息
申请号: 201010163595.4 申请日: 2007-10-15
公开(公告)号: CN101860666A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 角谷彰规 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 黄小临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 像素 缺陷 校正 装置
【权利要求书】:

1.一种像素缺陷校正装置,包括:

像素缺陷检测装置,被提供像素信号、检测该像素信号的缺陷并且测量缺陷计数;

计时装置;以及

过校正计算部件,构造为在由计时装置测量的预定时间消逝之后将该像素缺陷检测装置的测量值与该像素信号的估计值相比较,确定缺陷校正是否是过校正,且如果是,则产生用于该像素信号的校正的控制信号;

其中由该过校正计算部件产生的该控制信号用来校正该像素信号的缺陷。

2.如权利要求1所述的像素缺陷校正装置,其中

该过校正计算部件包括缺陷分布计算装置,该缺陷分布计算装置适合于根据缺陷率得到像素缺陷计数,并且

该缺陷分布计算装置在由该计时装置测量的预定时间消逝之后估计像素缺陷计数。

3.如权利要求2所述的像素缺陷校正装置,其中

该过校正计算部件包括阈值设定装置,以及

该阈值设定装置在由该计时装置测量的预定时间消逝之后将根据成像系统的操作条件而设定的可允许的值加至该像素缺陷计数的该估计值,以设定阈值。

4.如权利要求1所述的像素缺陷校正装置,其中

该过校正计算部件包括过校正确定部件,以及

该过校正确定部件将所检测的有缺陷的像素计数与该阈值相比较,且如果该有缺陷的像素计数大于该阈值,则产生所述控制信号。

5.如权利要求1所述的像素缺陷校正装置,其中

该过校正确定部件产生所述控制信号,以便关于有缺陷的像素的校正发出信息。

6.如权利要求1所述的像素缺陷校正装置,其中

该过校正计算部件改变所捕获的图像的位置,以确定像素是否是有缺陷的。

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