[发明专利]非破坏性密封测试及验证系统及其方法无效
申请号: | 201010165219.9 | 申请日: | 2010-05-07 |
公开(公告)号: | CN101813547A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 林恒生 | 申请(专利权)人: | 品富电子科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01M3/26 | 分类号: | G01M3/26;G01M3/06 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 龚敏 |
地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 破坏性 密封 测试 验证 系统 及其 方法 | ||
1.一种非破坏性密封测试及验证系统,其特征在于,包括:一待测物品,具有一密封测试孔;一止逆阀,以气体管路连接至该密封测试孔;一调压阀,连接至该止逆阀:一空气压缩机,连接至该调压阀;以及一数字式压力表,连接至该密封测试孔,用以侦测该待测物品内部在一定时间内的压力变化。
2.一种非破坏性密封测试及验证方法,其特征在于,步骤包括:
1)对一待测物品预留的密封测试孔进行空气加压,使该待测物品内部的压力大于外界的压力;
2)当该待测物品内部的压力调升到一预定压力值后,关闭空气加压源,使该待测物品密封一预定时间,并侦测该待测物品内部在预定时间内的压力变化;
3)该预定时间内,若该待测物品内部的压力维持在一压力门槛值以上,该待测物品即通过密封测试;
4)该预定时间内,若该待测物品内部的压力下降至该压力门槛值以下,则开启空气加压源后,将该待测物品置于水中,并观察该待测物品的气泡产生点。
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