[发明专利]非破坏性密封测试及验证系统及其方法无效

专利信息
申请号: 201010165219.9 申请日: 2010-05-07
公开(公告)号: CN101813547A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 林恒生 申请(专利权)人: 品富电子科技(上海)有限公司
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26;G01M3/06
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 龚敏
地址: 200233 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 破坏性 密封 测试 验证 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种非破坏性密封测试及验证系统,其特征在于,包括:一待测物品,具有一密封测试孔;一止逆阀,以气体管路连接至该密封测试孔;一调压阀,连接至该止逆阀:一空气压缩机,连接至该调压阀;以及一数字式压力表,连接至该密封测试孔,用以侦测该待测物品内部在一定时间内的压力变化。

2.一种非破坏性密封测试及验证方法,其特征在于,步骤包括:

1)对一待测物品预留的密封测试孔进行空气加压,使该待测物品内部的压力大于外界的压力;

2)当该待测物品内部的压力调升到一预定压力值后,关闭空气加压源,使该待测物品密封一预定时间,并侦测该待测物品内部在预定时间内的压力变化;

3)该预定时间内,若该待测物品内部的压力维持在一压力门槛值以上,该待测物品即通过密封测试;

4)该预定时间内,若该待测物品内部的压力下降至该压力门槛值以下,则开启空气加压源后,将该待测物品置于水中,并观察该待测物品的气泡产生点。

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