[发明专利]一种芯片测试的方法和装置有效
| 申请号： | 201010165354.3 | 申请日： | 2010-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN102236068B | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 胡伟锋 | 申请（专利权）人： | 无锡中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 郭海彬 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市新区长江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
1.一种芯片测试的方法，用于自动测试设备，其特征在于，包括如下步 骤：
读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量 源文件中的管脚描述信息的列表；
通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管 脚描述信息；
保存修改后的测试向量源文件；通过所述自动测试设备运行所述修改后的 测试向量源文件来进行芯片测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的 删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还 包括：
通过所述源文件编辑器的波形修改模块修改所述测试向量源文件的测试 向量波形。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的 删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还 包括：
通过所述源文件编辑器的模式修改模块修改所述测试向量源文件的操作 码模式。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过源文件编辑器的 删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还 包括：
如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量 设置为偶数行。
5.一种芯片测试的装置，用于自动测试设备，其特征在于，包括：
读取和显示模块，用于：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源 文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；
源文件编辑器，包括删除模块，所述删除模块用于：删除所述列表中没有 实际输入或输出的管脚描述信息；
保存和执行模块，用于：保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动 测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源文件编辑器还包括：
波形修改模块，用于修改所述测试向量源文件的测试向量波形。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源文件编辑器还包括：
模式修改模块，用于修改所述测试向量源文件的操作码模式。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述模式修改模块还用于： 如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量设置 为偶数行。
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