[发明专利]一种芯片测试的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片的自动测试设备，特别是涉及一种芯片测试的方法和装 置。

背景技术

ATE(AutomaticTestEquipment，自动测试设备)，是一种通过计算机控制 来进行器件、电路板和芯片测试的设备。其通过计算机编程取代人工劳动，自 动化的完成测试序列。

ATE可分为以下几种类型：数字测试系统、线性器件测试系统、模拟测试 系统、存储器测试系统、板测试系统、混合信号测试系统、SOC(SystemonChip， 在一个芯片内集成一个完整的系统)测试系统。

ATE的开发是从简单器件、低管脚数、低速测试系统(10MHz，64pins) 到中等数量管脚、中速测试系统(40MHz，256pins)到高管脚数、高速(超 过100MHz，1024pins)并最终过渡到现在的SoC测试系统(1024pin，超过 400MHz，并具备模拟、存储器测试能力)。未来的测试系统测试速度将超过 1.6GHz，时序精度在几百纳秒范围内，并将数字、模拟、存储器和RF测试能 力集成于一台测试系统。这样一台测试系统的成本将非常高，因此需要使用一 台或多台测试工作台进行并行的器件测试。为了降低测试成本，芯片中将加入 自测试电路。同时基于减少测试系统成本的考虑，模块化的测试系统将取代通 用的测试系统。

一般的ATE可以由带一定内存深度的一组通道，一系列时序发生器及多 个电源组成。这些资源是通过负载板把信号激励到芯片插座上的芯片管脚， ATE测试系统每个管脚有独立的测试资源。测试时候，每个管脚有对应的输入 或输出信号，并由这些信号构成测试向量，进行不同芯片功能的测试。

目前器件速度已经达到1.6GHz，管脚数达到1024，所有的电路都集成到 单个芯片。因此由针对管脚的测试向量构成的测试向量源文件体积特别大，甚 至超过数Gbytes，用普通文件编辑器来修改里面的参数时会力不从心，通常 耗时巨大，因此，ATE在进行测试向量源文件的修改和配置时，耗费了大量的 时间和资源，造成了测试效率低下。

发明内容

本发明的目的是提供一种芯片测试的方法和装置，能够节省ATE的资源 提高测试效率，解决现有技术测试向量源文件耗费了大量的时间和资源，测试 效率低下的技术问题。

为了实现上述目的，一方面，提供了一种芯片测试的方法，用于自动测试 设备，包括如下步骤：

读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源文件，显示所述测试向量 源文件中的管脚描述信息的列表；

通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表中没有实际输入或输出的管 脚描述信息；

保存修改后的测试向量源文件；

通过所述自动测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测 试。

优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表 中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：

通过所述源文件编辑器的波形修改模块修改所述测试向量源文件的测试 向量波形。

优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表 中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：

通过所述源文件编辑器的模式修改模块修改所述测试向量源文件的操作 码模式。

优选地，上述的方法中，所述通过源文件编辑器的删除模块删除所述列表 中没有实际输入或输出的管脚描述信息的步骤之前还包括：

如果所述操作码模式为普通模式，则把所述测试向量源文件中的测试矢量 设置为偶数行。

为了实现上述目的，本发明实施例还提供了一种芯片测试的装置，用于自 动测试设备，包括：

读取和显示模块，用于：读取所述自动测试设备的存储器中的测试向量源 文件，显示所述测试向量源文件中的管脚描述信息的列表；

源文件编辑器，包括删除模块，所述删除模块用于：删除所述列表中没有 实际输入或输出的管脚描述信息；

保存和执行模块，用于：保存修改后的测试向量源文件，并通过所述自动 测试设备运行所述修改后的测试向量源文件来进行芯片测试。

优选地，上述的装置中，所述源文件编辑器还包括：

波形修改模块，用于修改所述测试向量源文件的测试向量波形。

优选地，上述的装置中，所述源文件编辑器还包括：