[发明专利]测试系统及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及射频识别技术领域，特别涉及一种射频识别标签芯片的测试系统及测试方法。

背景技术

近些年，射频识别(Radio Frequency Identification；以下简称为RFID)已经成为IT领域的热点，许多国家都在不遗余力地推广这种技术。

RFID是一种利用射频通信实现的非接触式自动识别技术，它通过射频信号自动识别目标对象并获得相关数据。RFID技术与互联网、通讯等技术相结合，可实现全球范围内物品跟踪与信息共享，故可广泛应用于物流管理、身份识别、物品防伪、公共交通、小额电子支付等许多领域，可大幅提高管理与运行效率，降低成本。

RFID系统一般由阅读器和RFID标签(Tag)所构成。RFID标签由标签芯片和天线组成，每个RFID标签具有唯一的电子编码，附着在物体上标识目标对象。RFID标签具有体积小、容量大、寿命长、可重复使用等特点，可支持快速读写、非可视识别、移动识别、多目标识别、定位及长期跟踪管理。

精确测量对于应用在RFID技术的器件至关重要。在设计阶段，RFID系统模拟需要高度精确的元件表征来保证系统满足其性能要求。在生产制造中，精确地测量验证每一个元件是否满足其公布的指标。因此，RFID标签中在制作过程中或制作后需要进行相应的射频测试，以验证所述RFID标签是否精确地被制造及其射频性能是否正常。

对于RFID标签的射频测试，常见的多利用矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer；VNA)来进行。在测试时，一般是将待测的标签芯片置于测试夹具上，再为所述标签芯片配置一个天线，使得包括标签芯片和天线在内的负载端阻抗与矢量网络分析仪的内阻相匹配，这样，矢量网络分析仪将用于测试的射频信号以无线传输方式发送至所述标签芯片进行测试；根据测试结果和天线的技术特征，就可以获悉待测的标签芯片的属性(例如特性阻抗)。

但在上述测试技术中，由于RFID标签中的天线类型多样而具有不同的阻抗(阻抗一般为实部几十欧姆，虚部几百欧姆，且为变量)，而矢量网络分析仪的射频信号源的内阻一般为固定的50欧姆。根据物理规律，要使射频信号传送到标签芯片的功率最大，标签芯片和天线的阻抗必须与矢量网络分析仪的内阻相匹配。否则，如果阻抗不匹配，则射频信号中的一部分就会形成反射，不仅会降低传输效率，还会损坏矢量网络分析仪、产生震荡或辐射干扰等。为避免上述问题的产生，在测试前，就需挨个去选取一个合适的天线，使得所述天线和标签芯片构成的负载端的阻抗与矢量网络分析仪的射频信号源的内阻相匹配，这样造成操作十分繁琐，更严重的是，并不能确保最终选取的天线和标签芯片构成的负载端的阻抗能与矢量网络分析仪的射频信号源的内阻完全匹配，得到测试结果也只能做到近似而无法达到精确。

另外，例如公开号为CN101592704A的中国发明专利申请提供了一种RFID标签测试方法。所述方法包括：由向RFID标签芯片发射符合ISO国际标准的射频信号，在待测RFID标签芯片返回信号后，将其转换成为相应的数字信号，通过与事先保存的期待值进行比较，判别芯片的通讯功能是否实现；以及应用测试设备接收待测RFID标签芯片的检测数据项目信息，包括物理特性检测、静态性能检测、动态性能检测及射频识别与电子标签产品应用模拟试验场，并将测试结果传输到主机，以实现快速而便捷的RFID测试，标准一致性和优化测量。但上述电子标签RFID测试方法主要用于对实际应用中的电子标签RFID进行标准符合性测试、可互操作性测试和性能测试，以判断其是否符合预期的效果，但上述测试方法并没有特别涉及待测RFID标签芯片的特性(例如特征阻抗、增益或传输效率等)的测试工作。

发明内容

本发明解决的问题是，提供一种测试系统及测试方法，避免现有技术中选取天线进行阻抗匹配时操作繁琐，以及芯片测试不准确的问题。