[发明专利]一种空间像的质量检测方法有效

专利信息
申请号: 201010181621.6 申请日: 2010-05-21
公开(公告)号: CN102253604A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 张勇;宋海军 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 空间 质量 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种求解由于镜头变形所产生空间像的球差和彗差的方法,通过镜头进行成像,将所成的空间像分成n(n≥3)段,空间像总的能量等于各段空间像能量之和;将通过镜头所成空间像的能量用下列数学模型表示:

I=I1+I2+Λ+In,n≥3

其中,i=1,2,Λ,n,其中aix表示空间像宽度,aiz表示空间像高度;

当n为偶数时,mi=A·ai·(1+T),其中,ai表示各段的相对光强,A表示光强幅值,T表示离心率;

mi=A·ai·(1-T),i=n2+1,Λ,n]]>

当n为奇数时,mi=A·ai·(1+T),i=1,Λ,n-12]]>

mi=A·aii=n+12]]>

mi=A·ai·(1-T),i=n+32,...,n]]>

fi=(1+|ziaiz|3)-13,]]>i=1,2,Λ,n

xi=(x-x0)·cos(-γi)+(z-z0)·sin(-γi)-dxi,i=1,2,Λ,n,其中,γi表示各段光轴倾斜角,x为数学模型中的X方向坐标值,z为数学模型中的Z方向坐标值,x0表示X方向上的水平平移,z0表示Z方向上的垂向平移;

zi=-(x-x0)·sin(-γi)+(z-z0)·cos(-γi)-dzi,i=1,2,Λ,n,

i=1,2,Λ,n,其中,表示各段由球差Z7、彗差Z9造出的相位偏移,H表示水平空间像非对称参数,V表示垂向空间像非对称参数;

dxi=xiZ7·H+xiZ9·V,]]>i=1,2,Λ,n

dzi=ziZ7·H+ziZ9·V,]]>i=1,2,Λ,n

根据上述模型中的参数求解得到成像镜头的球差Z7和彗差Z9。

2.一种空间像质量检测方法,其步骤如下:

步骤1:启动对准系统;

步骤2:同步采集掩模上扫描标记成像的位置数据以及光强信息数据,并对位置数据进行空间变换,对光强信息数据进行暗电流过滤和卷积过滤,同时进行采样计数,所述位置数据为绝对位置数据,空间变换后,得到相对位置数据;

步骤3:判断采样点的数量是否达到了所设定的采样点总数,若是,转入步骤4,若否,转入步骤2;

步骤4:利用最小二乘法拟合三维抛物曲面,得到一组初始参数值X=(x0,z0,A,aix,aiz,H,V,T)T,并应用参数值X计算光强残差平方和Q;

步骤5:输入初始参数值X,利用Marquardt算法计算拟合参数的迭代增量ΔX;

步骤6:输入迭代增量ΔX,计算得到X_new=X+ΔX以及光强残差平方和Q_new;

步骤7:判断0πQ-Q_newπtolerance(阈值),若是,转入步骤8,若否,则判断X是否超出范围,以及迭代次数是否超出最大迭代次数,若是,则报错并转入步骤10,若否,则重新设置X和Q,转入步骤4;步骤8:由X_new计算HP和VP参数,其中,HP=H*scale,VP=V*scale,scale为尺度因子;

步骤9:计算球差和彗差Z7=HP/HPZ7,]]>Z9=VP/VPZ9;]]>

步骤10:结束对准扫描过程,关闭对准扫描系统。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司,未经上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010181621.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top