[发明专利]一种空间像的质量检测方法有效
申请号: | 201010181621.6 | 申请日: | 2010-05-21 |
公开(公告)号: | CN102253604A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 张勇;宋海军 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 空间 质量 检测 方法 | ||
1.一种求解由于镜头变形所产生空间像的球差和彗差的方法,通过镜头进行成像,将所成的空间像分成n(n≥3)段,空间像总的能量等于各段空间像能量之和;将通过镜头所成空间像的能量用下列数学模型表示:
I=I1+I2+Λ+In,n≥3
其中,i=1,2,Λ,n,其中aix表示空间像宽度,aiz表示空间像高度;
当n为偶数时,mi=A·ai·(1+T),其中,ai表示各段的相对光强,A表示光强幅值,T表示离心率;
mi=A·ai·(1-T),
当n为奇数时,mi=A·ai·(1+T),
mi=A·ai,
mi=A·ai·(1-T),
xi=(x-x0)·cos(-γi)+(z-z0)·sin(-γi)-dxi,i=1,2,Λ,n,其中,γi表示各段光轴倾斜角,x为数学模型中的X方向坐标值,z为数学模型中的Z方向坐标值,x0表示X方向上的水平平移,z0表示Z方向上的垂向平移;
zi=-(x-x0)·sin(-γi)+(z-z0)·cos(-γi)-dzi,i=1,2,Λ,n,
i=1,2,Λ,n,其中,表示各段由球差Z7、彗差Z9造出的相位偏移,H表示水平空间像非对称参数,V表示垂向空间像非对称参数;
根据上述模型中的参数求解得到成像镜头的球差Z7和彗差Z9。
2.一种空间像质量检测方法,其步骤如下:
步骤1:启动对准系统;
步骤2:同步采集掩模上扫描标记成像的位置数据以及光强信息数据,并对位置数据进行空间变换,对光强信息数据进行暗电流过滤和卷积过滤,同时进行采样计数,所述位置数据为绝对位置数据,空间变换后,得到相对位置数据;
步骤3:判断采样点的数量是否达到了所设定的采样点总数,若是,转入步骤4,若否,转入步骤2;
步骤4:利用最小二乘法拟合三维抛物曲面,得到一组初始参数值X=(x0,z0,A,aix,aiz,H,V,T)T,并应用参数值X计算光强残差平方和Q;
步骤5:输入初始参数值X,利用Marquardt算法计算拟合参数的迭代增量ΔX;
步骤6:输入迭代增量ΔX,计算得到X_new=X+ΔX以及光强残差平方和Q_new;
步骤7:判断0πQ-Q_newπtolerance(阈值),若是,转入步骤8,若否,则判断X是否超出范围,以及迭代次数是否超出最大迭代次数,若是,则报错并转入步骤10,若否,则重新设置X和Q,转入步骤4;步骤8:由X_new计算HP和VP参数,其中,HP=H*scale,VP=V*scale,scale为尺度因子;
步骤9:计算球差和彗差
步骤10:结束对准扫描过程,关闭对准扫描系统。
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