[发明专利]一种空间像的质量检测方法有效
申请号: | 201010181621.6 | 申请日: | 2010-05-21 |
公开(公告)号: | CN102253604A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 张勇;宋海军 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 空间 质量 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光刻领域,尤其涉及光刻机成像系统所成空间像的质量检测方法。
背景技术
光刻机曝光过程中,由于温度的影响,导致镜头变形,产生彗差和球差。硕士论文《大口径长焦距像质检测系统》中研究了大口径长焦距像质检测系统,利用平行光束经过镜头后照射在Ronchi光栅上,在Ronchi光栅后周期性的位置会形成Talbot像,在光栅Talbot像的位置再放置一个相同的Ronchi光栅就会产生莫尔条纹,当入射的平行光束在垂直光栅线方向有个微小的角度变化,莫尔条纹就会产生一个相应的明显移动;通过图像采集CCD系统,获得莫尔条纹的图像,输入计算机图像处理软件,计算莫尔条纹的移动量,接着可以求出入射波面的斜率,采用二维扫描的方法,测量镜头不同位置的子孔径的波面斜率,通过波面重构算法重构整个镜头波面斜率。
发明内容
本发明提供了一种求解由于镜头变形所产生球差和彗差的方法。
通过镜头进行成像,将所成的空间像分成n(n≥3)段,空间像总的能量等于各段空间像能量之和;将通过镜头所成空间像的能量用下列数学模型表示:
I=I1+I2+Λ+In,n≥3
其中,i=1,2,Λ,n,其中aix表示空间像宽度,aiz表示空间像高度;
当n为偶数时,其中,ai表示各段的相对光强,A表示光强幅值,T表示离心率;
当n为奇数时,
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