[发明专利]一种空间像的质量检测方法有效

专利信息
申请号: 201010181621.6 申请日: 2010-05-21
公开(公告)号: CN102253604A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 张勇;宋海军 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 质量 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光刻领域,尤其涉及光刻机成像系统所成空间像的质量检测方法。

背景技术

光刻机曝光过程中,由于温度的影响,导致镜头变形,产生彗差和球差。硕士论文《大口径长焦距像质检测系统》中研究了大口径长焦距像质检测系统,利用平行光束经过镜头后照射在Ronchi光栅上,在Ronchi光栅后周期性的位置会形成Talbot像,在光栅Talbot像的位置再放置一个相同的Ronchi光栅就会产生莫尔条纹,当入射的平行光束在垂直光栅线方向有个微小的角度变化,莫尔条纹就会产生一个相应的明显移动;通过图像采集CCD系统,获得莫尔条纹的图像,输入计算机图像处理软件,计算莫尔条纹的移动量,接着可以求出入射波面的斜率,采用二维扫描的方法,测量镜头不同位置的子孔径的波面斜率,通过波面重构算法重构整个镜头波面斜率。

发明内容

本发明提供了一种求解由于镜头变形所产生球差和彗差的方法。

通过镜头进行成像,将所成的空间像分成n(n≥3)段,空间像总的能量等于各段空间像能量之和;将通过镜头所成空间像的能量用下列数学模型表示:

I=I1+I2+Λ+In,n≥3

其中,i=1,2,Λ,n,其中aix表示空间像宽度,aiz表示空间像高度;

当n为偶数时,其中,ai表示各段的相对光强,A表示光强幅值,T表示离心率;

mi=A·ai·(1-T),i=n2+1,Λ,n]]>

当n为奇数时,mi=A·ai·(1+T),i=1,Λ,n-12]]>

mi=A·ai,i=n+12]]>

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